[发明专利]一种量子密钥分发系统中关键器件测试方法有效
| 申请号: | 201310468678.8 | 申请日: | 2013-09-28 |
| 公开(公告)号: | CN104516816B | 公开(公告)日: | 2019-03-15 |
| 发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 科大国盾量子技术股份有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;H04L9/08 |
| 代理公司: | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人: | 丁瑞瑞 |
| 地址: | 230088 安徽省合肥市高*** | 国省代码: | 安徽;34 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 量子 密钥 分发 系统 关键 器件 测试 方法 | ||
1.一种量子密钥分发系统中关键器件测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤一:确定需要测试的量子密钥分发系统中的关键器件及各关键器件的关键测试参数;
步骤二:在关键测试参数中选择主变参数,其余参数作为从变参数;
步骤三:通过人机控制界面设置各主变参数的值,测试从变参数;
步骤四:将测试数据写入数据库;
步骤五:分析数据库中测试数据,显示分析结果;
步骤六:对分析结果进行判断,如有必要返回步骤三继续测试;
步骤七:对数据库中的所有测试数据进行统计分析,得出测试结论;
所述步骤一中的需要测试的量子密钥分发系统中的关键器件至少包括如下的一种或几种:单光子探测器,诱骗态光源,光模块,密钥协商模块;其需要测试的关键测试参数至少包括如下的一种或几种:单光子探测器的有效门宽、暗计数、探测率,诱骗态光源的底宽、半高宽、波长,光模块的光损耗,及密钥协商模块的成码率、错误率和反馈效率;
所述步骤五中分析测试数据的方法为:通过分析关键测试参数的相关性,功能性关键测试参数与能代表量子密钥分发系统性能的关键测试参数之间的相关性,分析各关键测试参数在各个取值区间的统计特性;
所述步骤六中对分析结果进行判断的方法为:根据步骤五中获得的关键测试参数的相关性和各关键测试参数在各个取值区间的统计特性,判断数据库中测试数据的完整性,参照测试目的,如果发现还有需要测试的主变参数取值组合,则返回步骤三继续测试。
2.如权利要求1所述的一种量子密钥分发系统中关键器件测试方法,其特征在于,所述步骤二中选择主变参数的方法为:如果一个关键器件的关键测试参数多于一个,则在具有相关性的参数中至少将一个测试参数作为主变参数;如果一个关键器件只有一个关键测试参数,则此关键器件不设定主变参数。
3.如权利要求1所述的一种量子密钥分发系统中关键器件测试方法,其特征在于,所述步骤三中测试从变参数的方法为:建立带有人机控制界面的测试平台,通过测试平台的人机控制界面设定主变参数的取值,从而控制关键器件的主变参数,在各个关键器件的主变参数确定的情况下,测试从变参数。
4.如权利要求1所述的一种量子密钥分发系统中关键器件测试方法,其特征在于,所述步骤四中的测试数据为每一次测试中对应的主变参数的取值和从变参数的测试值。
5.如权利要求1所述的一种量子密钥分发系统中关键器件测试方法,其特征在于:根据测试目标和所述步骤七中得到的测试结论,如果需要进一步测试,则返回步骤二,更改主变参数,继续测试。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于科大国盾量子技术股份有限公司,未经科大国盾量子技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310468678.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





