[发明专利]一种非均匀光照图像二次曝光的实现方法无效

专利信息
申请号: 201310455253.3 申请日: 2013-09-27
公开(公告)号: CN103530848A 公开(公告)日: 2014-01-22
发明(设计)人: 李权合;毕笃彦;熊磊;张登福;王晨 申请(专利权)人: 中国人民解放军空军工程大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T5/50
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 710038 *** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 均匀 光照 图像 二次 曝光 实现 方法
【权利要求书】:

1.一种非均匀光照图像二次曝光的实现方法,其特征在于,所述非均匀光照图像二次曝光的实现方法包括以下步骤:

获取光照图像;

获取反射图像;

将光照图像和反射图像叠加获取全局增强结果,并将全局增强结果和原始图像融合;

对增强结果进行颜色校正,获取视觉匹配图像。

2.如权利要求1所述的非均匀光照图像二次曝光的实现方法,其特征在于,获取逼真的光照图像通过改进变分框架下的Retinex估计光照图像,求解Kimmel模型时可将目标明确为获取光滑的光照图像,提出通过项约束反射图像保留一定的边缘和细节信息,并具有进一步强调光照图像光滑性的作用,所以可以采用后者改进方案用于光照图像求解。

3.如权利要求2所述的非均匀光照图像二次曝光的实现方法,其特征在于,Kimmel模型为:考虑到是常数且在计算过程中意义不大,为了降低计算复杂度,第三项罚函数修改为,综上,可将Kimmel模型改写为

minF[l]=Ω(|l|2+α|l-s|2-β|(l-s)|2)dxdys.t.lsand<l,n>=0onΩ,---(2)]]>

上式中的三个罚函数保证了光照图像的空间平滑、光照图像与原始图像的相关性和反射图像的细节,求解过程采用李提出的快速求解方法实现。

4.如权利要求1所述的非均匀光照图像二次曝光的实现方法,其特征在于,获取逼真的反射图像的具体过程为:

求解(2)式得到光照图像的估计,继而通过反解Retinex模型S=R·L,可以得到反射图像的估计,先将中心像素受邻域像素影响造成的模糊去掉,得到锐化图像,再将锐化图像和原图像相加就可以增加中心像素和周围背景亮度间的比例,类比反热传导方程的近似解。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国人民解放军空军工程大学,未经中国人民解放军空军工程大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310455253.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top