[发明专利]一种原位同时测定培养基中四价、五价钒含量的方法无效

专利信息
申请号: 201310428377.2 申请日: 2013-09-18
公开(公告)号: CN103512853A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 杨杰;杨金燕;李廷强;王斌 申请(专利权)人: 四川大学;浙江大学
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610065 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 原位 同时 测定 培养基 中四价 五价钒 含量 方法
【权利要求书】:

1.一种原位同时测定培养基中四价、五价钒的方法,主要是通过培养基配方改进,显色反应体系建立,测定波长选择,实现了培养基中四价、五价钒的原位同时测定,方法的特征在于培养基调整,显色体系条件设定及波长的选择。

2.根据权利要求1所述的一种原位同时测定培养基中四价、五价钒的方法,其特征是对牛肉膏蛋白胨培养基组成进行改进,将牛肉膏和蛋白胨的比例降低10%~30%,使其干扰降低。

3.根据权利要求1所述的一种原位同时测定培养基中四价、五价钒的方法,其特征是用同等浓度的培养基作为背景溶剂,配置四价和五价钒标准样品。

4.根据权利要求1所述的一种原位同时测定培养基中四价、五价钒的方法,其特征是显色反应体系为:依次向试管中添加8.5 ml去离子水、0.1 ml培养基(样品)、0.2 ml浓硫酸、0.2 ml浓磷酸、1 ml磷钨酸,混合均匀室温静置0.5~1 h;取上清液过0.22 μm水系滤膜测定。

5.根据权利要求1所述的一种原位同时测定培养基中四价、五价钒的方法,其特征是使用分光光度检测滤液,测试并绘制400~600 nm范围内的吸光度曲线,作为定性分析数据依据;记录波长为510 nm和420 nm处的吸光度值,作为定量计算依据。

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