[发明专利]一种硅晶片差异化研磨装置在审

专利信息
申请号: 201310427349.9 申请日: 2013-09-18
公开(公告)号: CN103506936A 公开(公告)日: 2014-01-15
发明(设计)人: 周涛;裴保齐;邵斌;李斌 申请(专利权)人: 洛阳鸿泰半导体有限公司
主分类号: B24B37/08 分类号: B24B37/08
代理公司: 洛阳市凯旋专利事务所 41112 代理人: 陆君
地址: 471000 河南省洛阳市高新*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 一种 晶片 异化 研磨 装置
【权利要求书】:

1.一种硅晶片差异化研磨装置,包括传动系统和研磨系统,传动系统由中心齿圈电机(8)、内齿圈电机(9)和共有电机(10)构成,研磨系统由中心齿圈(5)、内齿圈(4)、上磨盘(7)、下磨盘(3)和行星游轮片(6)构成,内齿圈(4)内设有上磨盘(7)和下磨盘(3),内齿圈(4)、上磨盘(7)和下磨盘(3)为同心结构,上磨盘(7)和下磨盘(3)的中心设有上磨盘驱动轴(1),上磨盘驱动轴(1)上套有中心齿圈(5),其特征是:在下磨盘(3)上面设有若干个行星游轮片(6),下磨盘(3)的下方设有中心齿圈电机(8)、内齿圈电机(9)和共有电机(10),共有电机(10)通过齿轮带动上磨盘驱动轴(1),中心齿圈电机(8)通过齿轮带动中心齿圈(5),内齿圈电机(9)通过齿轮带动内齿圈(4)。

2.根据权利要求1所述的一种硅晶片差异化研磨装置,其特征是:所述内齿圈电机(9)为交流变频电机,交流变频电机通过改变旋转速度和旋转方向再由齿轮带动内齿圈(4)的转动方向和转动速度,内齿圈(4)带动行星游轮片(6)进行正向或反向公转,在中心齿圈(5)、上磨盘(7)和下磨盘(3)去除速率不变的情况下自由的分配了行星游轮片(6)的转动速率,所述行星游轮片(6)的转动速率实现了硅晶片双面任意比例的差异化研磨。

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