[发明专利]垂直的微电子元件以及相应的制造方法有效

专利信息
申请号: 201310427220.8 申请日: 2013-09-18
公开(公告)号: CN103681836B 公开(公告)日: 2018-11-16
发明(设计)人: C.舍林;W.达夫斯 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L29/06;H01L21/335
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 汲长志;杨国治
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 垂直 微电子 元件 以及 相应 制造 方法
【权利要求书】:

1.垂直的微电子元件,其具有

半导体基(1;1’’’),该半导体基具有正面(O)和背面(R);

大量在半导体基(1;1’’’)的正面(O)上形成的鳍状物(1a、1b)的结构,所述鳍状物具有相应的侧壁(S)和相应的上侧(T)并且通过凹穴(G)相互分开;

其中每个鳍状物(1a、1b)具有:

至少一个GaN/AlGaN-异层区域(2a、2b),所述GaN/AlGaN-异层区域形成在侧壁(S)上并且具有嵌入的通道区域(K),该通道区域平行于侧壁(S)延伸;

至少一个门接口区域(G1-G4),该门接口区域在GaN/AlGaN-异层区域(2a、2b)上方相对于所属的凹穴(G)中的通道区域(K)电绝缘地布置在侧壁(S)上;

共同的源接口区域(SL),该源接口区域布置在鳍状物(1a、1b)上方并且与鳍状物(1a、1b)上侧(T)附近的通道区域(K)的各个第一端部连接;以及

共同的排出接口区域(DL),该排出接口区域布置在背面(R)的上方并且与半导体基(1、1’’’)的正面(O)附近的通道区域(K)的各个第二端部连接。

2.按权利要求1所述的垂直的微电子元件,其中,每个鳍状物(1a、1b)具有两个GaN/AlGaN-异层区域(2a、2b),所述GaN/AlGaN-异层区域形成在侧壁(S)的对置的侧面上并且具有相应嵌入的通道区域(K)以及两个门接口区域(G1-G4),所述通道区域平行于侧壁(S)延伸,所述门接口区域在所述两个GaN/AlGaN-异层区域(2a、2b)的上方相对于所属的凹穴(G)中的通道区域(K)电绝缘地布置在侧壁(S)上。

3.按权利要求1或2所述的垂直的微电子元件,其中,所述门接口区域(G1-G4)通过平行的凹穴(G)中相应的门导线(Ga-Gi)进行电连接并且所述门导线(Ga-Gi)在共同的门接口(GG)上电连接在一起。

4.按权利要求1或2所述的垂直的微电子元件,其中,在各个门接口区域(G1-G4)和所属的GaN/AlGaN-异层区域(2a、2b)之间布置门绝缘层(GD)。

5.按权利要求1或2所述的垂直的微电子元件,其中,所述背面(R)具有其它凹穴(G’),在这些其它凹穴中共同的排出接口区域(DL)与通道区域(K)的相应的第二端部连接。

6.用于制造垂直的微电子元件的方法,具有以下步骤:

提供半导体基(1;1’’’),该半导体基具有正面(O)和背面(R);

通过槽蚀刻处理形成在半导体基(1;1’’’)的正面(O)上大量鳍状物(1a、1b)的结构,所述鳍状物具有相应的侧壁(S)以及相应的上侧(T)并且通过凹穴(G)相互分开;

将GaN/AlGaN-异层区域(2a’、2b’)的各个异层区域(2a、2b)形成在侧壁(S)上;

在正面(O)上方沉积第一绝缘层(I)并且将第一绝缘层(I)重新抛光到鳍状物(1a、1b)的上侧(T)上;

将第一绝缘层(I)后蚀刻到凹穴(G)中预先确定的高度(d)上;

门接口区域(G1-G4)在各个GaN/AlGaN-异层区域(2a、2b)上方相对于所属的凹穴(G)中的通道区域(K)电绝缘地形成在侧壁(S)上;

在正面(O)上方沉积第二绝缘层(I’;I’’);

在第二绝缘层(I’;I’’)中形成接触孔(K1-K4)用于露出鳍状物(1a、1b)上侧(T)附近的通道区域(K)的各个第一端部;

形成共同的源接口区域(SL),该源接口区域布置在鳍状物(1a、1b)上方并且通过接触孔(K1-K4)与鳍状物(1a、1b)上侧(T)附近的通道区域(K)的各个第一端部连接;

从背面(R)起露出半导体基(1;1’’’)正面(O)附近的通道区域(K)的各个第二端部;并且

形成共同的排出接口区域(DL),该排出接口区域布置在背面(R)上方并且与半导体基(1;1’’’)的正面(O)附近的通道区域(K)的各个第二端部连接。

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