[发明专利]一种不需使用CMP的TSV与第一层再布线层的制造方法有效
| 申请号: | 201310419865.7 | 申请日: | 2013-09-13 |
| 公开(公告)号: | CN103456685A | 公开(公告)日: | 2013-12-18 |
| 发明(设计)人: | 宋崇申;张文奇;顾海洋 | 申请(专利权)人: | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
| 代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所 32104 | 代理人: | 曹祖良 |
| 地址: | 214135 江苏省无锡市新区太湖国*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 使用 cmp tsv 一层 布线 制造 方法 | ||
1.一种不需使用CMP的TSV与第一层再布线层的制造方法,其特征是,包括以下步骤:
第一步,对已经完成TSV电镀填充的衬底,采用机械刮平的方式处理衬底表面,消除表面金属层的凸出或凹坑;
第二步,采用湿法腐蚀或电化学抛光的方式,减薄衬底表面金属层;
第三步,光刻获得第一层再布线层图形,并以衬底表面剩余金属层为种子层,电镀获得再布线金属层;
第四步,去除光刻胶,并腐蚀去除衬底表面的金属层和扩散阻挡层,完成第一层再布线层的制造。
2.如权利要求1所述的一种不需使用CMP的TSV与第一层再布线层的制造方法,其特征是,第一步机械刮平前,所述完成TSV电镀填充的衬底已经完成退火处理。
3.如权利要求1所述的一种不需使用CMP的TSV与第一层再布线层的制造方法,其特征是,第一步机械刮平前,在衬底表面涂覆一层聚合物层。
4.如权利要求3所述的一种不需使用CMP的TSV与第一层再布线层的制造方法,其特征是,所述聚合物层材料是光刻胶、聚酰亚胺或苯并环丁烯。
5.如权利要求1所述的一种不需使用CMP的TSV与第一层再布线层的制造方法,其特征是,第二步将衬底表面金属层减薄至厚度小于500nm大于50nm。
6.如权利要求1所述的一种不需使用CMP的TSV与第一层再布线层的制造方法,其特征是,第一步中所述TSV由金属铜填充,填充方式为电镀。
7.如权利要求1所述的一种不需使用CMP的TSV与第一层再布线层的制造方法,其特征是,所述衬底在完成TSV电镀填充工艺之后,避免使用边缘腐蚀的步骤,保留边缘金属层。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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