[发明专利]一种高精度螺旋测微仪

说明书

技术领域

本发明涉及机械设备领域，具体涉及一种高精度螺旋测微仪。

背景技术

随着社会生产的发展，机械行业的快速发展，大量的工业工具被生产、使用，在生产中常会进行测量作业，有长度、宽度、高度、直径测量等等，对于测量来说，准确度是生命，而千分尺无疑是测量小型工件尺寸中准确度最高的一种仪器，申请号为CN201220154510.0公开了一种螺旋测微仪，涉及测量工具领域，千分尺的起点都是0，实际操作过程中，由于使用不当，初始状态多少和上述要求不符，即有一个不等于零的读数，零差为负工人往往会犯错，导致测量结果错误，为克服千分尺起点刻度为零带来的读数不便，本发明将千分尺的主尺刻度向左移动一定的距离，将螺旋测微仪的主尺向左边移动1-3mm，本刻度方法回归长度等于两坐标之差的本质，可以不再使用零差的概念；可以避免负零差带来的读数不便，但是该千分尺，测量实物时，无法保证实物与测砧和测微螺杆在同一水平线上，不利于测量的进行，测量精度低。

发明内容

本发明的目的是提供一种高精度螺旋测微仪，以解决现有技术中导致的上述多项缺陷。

本发明所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现：一种高精度螺旋测微仪，包括固定支架和测微螺杆，所述固定支架上设有测砧，所述测微螺杆上设有螺母套筒、微分筒和棘轮，所述测微螺杆上设有可见光发射装置，所述测砧上设有凹槽，所述可见光发射装置与凹槽在同一水平线上，所述凹槽的宽度为8~10mm。

优选的，所述固定支架上设有圆槽。

优选的，所述固定支架上设有支撑底座。

优选的，所述支撑底座与固定支架为卡接。

优选的，所述圆槽直径为8~10cm。

本发明的优点在于：测量实物时，可在实物上划一条线，测微螺杆发射可见光，移动实物使其上线条与可见光以及凹槽在同一水平线上，提高所测尺寸的精度，结构合理，适于推广使用，凹槽可放置划线笔，便于在实物上面划线，制成底座可将千分尺放置于桌面上测量，便于测量不同类型的实物，卡接保证了底座与支架的活动连接，不使用底座时，可将底座从支架上拆卸下来，方便实用。

附图说明

图1是本发明所述的一种高精度螺旋测微仪的主视图。

图2是本发明所述的一种高精度螺旋测微仪固定支架的侧视图。

其中：1—固定支架，2—测微螺杆，3—测砧，4—螺母套筒，5—微分筒，6—棘轮，7—可见光发射装置，8—凹槽，9—圆槽，10—支撑底座。

具体实施方式

为了使本发明实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体图示，进一步阐述本发明。

如图1和图2所示，本发明所述的一种高精度螺旋测微仪，包括固定支架1和测微螺杆2，所述固定支架1上设有测砧3，所述测微螺杆2上设有螺母套筒4、微分筒5和棘轮6，所述测微螺杆2上设有可见光发射装置7，所述测砧3上设有凹槽8，所述可见光发射装置7发出的可见光与凹槽8在同一水平线上，所述凹槽8的宽度为8~10mm，测量实物时，可在实物上划一条线，测微螺杆发射可见光，移动实物使其上线条与可见光以及凹槽在同一水平线上，提高所测尺寸的精度，结构合理，适于推广使用。

值得注意的是，所述固定支架1上设有圆槽9，凹槽可放置划线笔，便于在实物上面划线，所述固定支架1上设有支撑底座10，支撑底座可将千分尺放置于桌面上测量，便于测量不同类型的实物，所述支撑底座10与固定支架1为卡接，卡接保证了底座与支架的活动连接，不使用底座时，可将底座从支架上拆卸下来，所述圆槽9直径为8~10cm，方便实用。

此外，所述测微螺杆2和测砧3应定时清理污渍，以免影响测量精准度。

基于上述，测量实物时，可在实物上划一条线，测微螺杆发射可见光，移动实物使其上线条与可见光以及凹槽在同一水平线上，提高所测尺寸的精度，结构合理，适于推广使用，凹槽可放置划线笔，便于在实物上面划线，支撑底座可将千分尺放置于桌面上测量，便于测量不同类型的实物，卡接保证了底座与支架的活动连接，不使用底座时，可将底座从支架上拆卸下来，方便实用。

以上显示和描述了发明的基本原理和主要特征和本发明的优点。本行业的技术人员应该了解，本发明不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中的描述只是说明本发明的原理，在不脱离本发明精神和范围的前提下，本发明还会有各种变化和改进，这些变化和改进都在要求保护的本发明范围内，本发明要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。