[发明专利]一种DSP器件单粒子翻转效应检测方法

权利要求书

1.一种DSP器件单粒子翻转效应检测方法，其特征在于步骤如下： 

（1）建立由上位机、路由器、电源模块、FPGA板、DSP器件子板组成的检测系统，其中FPGA板和DSP器件子板置于真空罐内，电源模块置于真空罐外上为FPGA板和DSP器件供电，上位机通过路由器与FPGA板和电源相连接用于实时监视单粒子翻转试验结果； 

（2）FPGA板通过接口与DSP器件通信用于对DSP器件进行控制，同时获取DSP器件内部各模块单粒子翻转效应试验的检测数据，DSP器件配有SRAM芯片用于运行DSP程序，FPGA器件配有FLASH芯片用于存储FPGA程序，FPGA板配有SRAM芯片用于存储单粒子翻转效应试验的检测数据； 

（3）依次采用四个测试用例对DSP器件进行内部RAM、寄存器和HPI接口单粒子翻转效应检测、对DSP器件进行内部RAM、EMIF接口和串口单粒子翻转效应检测、对DSP器件进行CPU模块单粒子翻转效应检测、对DSP器件进行PLL模块单粒子翻转效应检测； 

（4）完成DSP器件单粒子翻转效应检测。 

2.根据权利要求1所述的一种DSP器件单粒子翻转效应检测方法，其特征在于：所述采用测试用例对DSP器件进行内部RAM、寄存器和HPI接口进行单粒子翻转效应检测的实现方法为： 

（1）FPGA将DSP器件设置为HPI工作状态和片内工作模式； 

（2）FPGA通过DSP器件HPI接口向DSP器件内部程序RAM区、数据RAM区和内部通用寄存器写入固定向量； 

（3）FPGA通过DSP器件HPI接口依次读取DSP器件内部程序RAM区、内部数据RAM区和内部通用寄存器中的数据，并顺序存储在FPGA器件片外的 SRAM芯片中； 

（4）开始对被检测DSP器件进行单粒子辐照； 

（5）FPGA再次通过DSP器件HPI接口依次读取内部程序RAM区、内部数据RAM区和内部通用寄存器中的数据，并连续3次读取同一位置的数据； 

（6）FPGA检测DSP器件HPI接口在设定时间内READY信号是否准备好，如果READY信号准备好，FPGA通过HPI接口读取出DSP器件输出的数据，执行步骤（7），如果READY信号没有准备好则进入步骤（10）； 

（7）FPGA对片外SRAM芯片里存储的辐照前后的内部程序RAM区、内部数据RAM区和内部通用寄存器数据进行比较，如果辐照前后存储的数据均相等，则DSP器件中内部程序RAM区、数据RAM区和内部通用寄存器未发生单粒子翻转效应，返回步骤（5），否则执行步骤（8）； 

（8）FPGA对片外SRAM芯片里存储的辐照前后的内部程序RAM区、内部数据RAM区和内部通用寄存器数据进行比较，判断辐照前后存储的数据中是否有两个数据相等，如果辐照前后存储的数据中有两个数据相等，则判定HPI接口发生一次单粒子翻转效应，返回步骤（5），否则执行步骤（9）； 

（9）FPGA对片外SRAM芯片里存储的辐照前后的内部程序RAM区、内部数据RAM区和内部通用寄存器数据进行比较，判断辐照前后存储的数据中是否有一个数据相等，如果辐照前后存储的数据中有一个数据相等，则判定HPI接口发生一次单粒子翻转效应，内部RAM程序区或内部数据RAM区发生单粒子翻转效应，返回步骤（5），否则判定内部程序RAM区、内部数据RAM区和内部通用寄存器均发生单粒子翻转效应，执行步骤（10） 

（10）停止辐照，检测结束。