[发明专利]用于检测接触效果的探针模组

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示屏制造技术领域，尤其涉及一种在液晶配向过程中用于检测接触效果的探针模组。

背景技术

近年来，随着薄型化的显示趋势，液晶显示器（Liquid Crystal Display，简称LCD）已广泛使用在各种电子产品的应用中，例如手机、笔记本计算机以及彩色电视机等。

在液晶面板的制造过程中，需要对液晶进行初始配向。目前，紫外线固化（简称UV Curing）是对液晶进行配向的重要制程，该方法主要是在液晶面板注满液晶后，通过UV和电场的共同作用完成液晶配向。

在进行UV Curing液晶配向时，给液晶施加电场，然后对液晶进行UV照射。这样会使得液晶中反应单体在电场的作用下向上下运动，且在UV的作用下发生聚合反应，在液晶上下基板的PI导向模上形成配向层，起到对液晶配向的作用。

需要说明的是，执行上述操作的关键因素分别是UV、电场和反应温度。对于电场来说，目前常用的电场来源是通过一组探针模组将外部电压通过液晶面板的基板外部测试线路施加到液晶上。请参考图1和图2，如图1所示，利用探针模组12接触玻璃基板11，并通过连接探针模组12的外部连接线13将外部电压施加给液晶，使得在液晶中产生电场。

在整个液晶配向过程中，为了减少探针斑点（Pin Mura），需要减少探针（Pin）的数量，或者使探针（Pin）接触玻璃基板的位置远离显示区域，然而，这样又会导致基板产生形变（bending），导致外部电压对基板施加电压的时候出现接触不良，从而导致配向异常（具体请参考图3（a）），或者探针出现伸缩疲劳，也会产生接触失败（具体请参考图3（b））。

由于当前条件下液晶面板的形变是不可避免的，从而导致探针模组与基板接触时会出现接触不良的现象，导致设定的电压没有按照设定条件进入液晶面板中，造成配向异常，导致产品损失。

在消除或减少因为探针模组接触不良造成配向异常的问题上，业界目前主要使用如图4所示的监控设备对外部电源和探针模组12之间的电流进行监测和及时报警。该探针模组12（如图5所示）仅包括一个可伸缩探针和信号线51，该可伸缩探针包括探针本体54、套在该探针本体54外部的探针套53以及设置在探针套53内部、使探针本体54可伸缩运动的弹性部件52。该设备中的电流监控装置42通过探针线路41对上述电流进行检测，若监控到电流的大小不在设定的范围内，则该设备中的报警器43便自动报警。

但是目前发生较多状况是，当监控的电流值偏大时，可基本认定探针接触良好，是由于类似液晶面板内部短路等其他原因导致电流异常偏大。但是当电流偏小时有可能是探针接触不良导致电流偏小，也有可能是液晶面板内部线路断开，或者部分断开导致电阻增大使电流变小，从而无法迅速确认是不是因为探针接触问题导致异常，使设备异常处理变得复杂且耗时较长。

因此，如何解决上述问题，以及时迅速地确认探针接触是否良好，降低对于设备异常的复杂度和消耗时间乃业界所致力的课题之一。

发明内容

本发明所要解决的技术问题之一是需要提供一种用于检测接触效果的探针模组，该探针模组在进行液晶配向过程中，能够及时迅速地确认自身探针与接触面的接触效果，降低对于设备异常的复杂度和消耗时间。

为了解决上述技术问题，本发明提供了一种用于检测接触效果的探针模组，在液晶配向过程中，用于检测其自身与液晶面板的基板外部测试线路的接触效果，包括：至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针；与所述至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针电连接的电阻监控装置，其通过监控所述至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针之间的电阻来判断所述至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针与接触面的接触效果。

在一个实施例中，各个可伸缩探针包括探针本体、套在该探针本体外部的探针套以及设置在探针套内部、使探针本体可伸缩运动的弹性部件。

在一个实施例中，各个相邻的可伸缩探针之间的部分缝隙设有绝缘层，各个可伸缩探针的探针套和探针的相邻外周壁上设有绝缘涂层。

在一个实施例中，各个相邻的可伸缩探针之间的距离在0.1mm-2mm范围内。

在一个实施例中，在所述电阻监控装置测量的电阻值在第一设定范围内时，判定所述至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针未与接触面接触；在所述电阻监控装置测量的电阻值在第二设定范围内时，判定所述至少两个相互之间绝缘的可伸缩探针与接触面接触。

在一个实施例中，还包括与所述电阻监控装置电连接的报警器，其在所述电阻监控装置测量的电阻值在第一设定范围内时，发出警报。