[发明专利]用于半导体装置的模拟器和模拟方法

权利要求书

1.一种用于半导体装置的模拟器，所述半导体装置具有模拟前端电路，所述模拟前端电路的电路配置能够被改变，所述模拟器包括：

偏置电路信息存储器，所述偏置电路信息存储器存储来自传感器和用于向所述传感器供应偏置信号的多个偏置电路的信息；

传感器选择器，所述传感器选择器选择要耦合到所述模拟前端电路的传感器；

偏置电路显示单元，所述偏置电路显示单元参考所述偏置电路信息存储器，并且显示与所选择的传感器匹配的偏置电路；

偏置电路选择器，所述偏置电路选择器在所显示的偏置电路中选择要耦合到所选择的传感器的偏置电路；

电路配置设置单元，所述电路配置设置单元设置要耦合到所选择的传感器和偏置电路的所述模拟前端电路的电路配置；以及

模拟执行单元，所述模拟执行单元模拟耦合电路，所述耦合电路耦合所选择的传感器和偏置电路与所设置的电路配置的模拟前端电路。

2.根据权利要求1所述的用于半导体装置的模拟器，进一步包括：

传感器信息存储器，所述传感器信息存储器彼此相关联地存储所述传感器和所述传感器的类型；其中：

所述传感器选择器基于通过所述传感器信息存储器的关联来选择与所选择的传感器的类型匹配的传感器。

3.根据权利要求2所述的用于半导体装置的模拟器，进一步包括：

传感器显示单元，所述传感器显示单元参考所述传感器信息存储器，并且显示与由用户选择的传感器的类型匹配的多个传感器，其中：

所述传感器选择器根据用户的操作来在所显示的传感器中选择传感器。

4.根据权利要求3所述的用于半导体装置的模拟器，其中，所述传感器显示单元参考所述传感器信息存储器，并且显示具有由用户选择的传感器的类型并且满足用户指定的对于传感器的搜索条件的传感器。

5.根据权利要求1所述的用于半导体装置的模拟器，进一步包括：

模拟电路信息存储器，所述模拟电路信息存储器彼此相关联地存储所述传感器和偏置电路与经由所述偏置电路耦合到所述传感器的所述模拟前端电路的电路配置，其中：

所述电路配置设置单元参考所述模拟电路信息存储器，并且设置与所选择的传感器和偏置电路匹配的所述模拟前端电路的电路配置。

6.根据权利要求1所述的用于半导体装置的模拟器，其中，所述电路配置设置单元与所选择的传感器和偏置电路对应地设置在所述模拟前端电路中包含的可配置放大器的电路配置。

7.根据权利要求1所述的用于半导体装置的模拟器，其中，所述电路配置设置单元设置在所选择的传感器和偏置电路的输出端子与所述模拟前端电路的输入端子之间的耦合关系。

8.根据权利要求1所述的用于半导体装置的模拟器，进一步包括：

电路特性设置单元，所述电路特性设置单元基于所选择的传感器和偏置电路来设置所述模拟前端电路的电路特性。

9.根据权利要求8所述的用于半导体装置的模拟器，其中，所述电路特性设置单元设置所述模拟前端电路的增益和偏移，使得将所述模拟前端电路的输出信号保持在所述模拟前端电路的可操作范围内。

10.根据权利要求1所述的用于半导体装置的模拟器，进一步包括：

半导体装置信息存储器，所述半导体装置信息存储器彼此相关联地存储包括所述模拟前端电路的半导体装置和能够配置相关的模拟前端电路的电路；以及

半导体装置选择器，所述半导体装置选择器基于通过所述半导体装置信息存储器的关联来选择具有所设置的电路配置的模拟前端电路的所述半导体装置作为模拟对象。

11.根据权利要求10所述的用于半导体装置的模拟器，进一步包括：

半导体装置显示单元，所述半导体装置显示单元参考所述半导体装置信息存储器，并且显示与所设置的电路配置的模拟前端电路匹配的多个半导体装置，

其中，所述半导体装置选择器根据用户的操作来从所显示的多个半导体装置中选择半导体装置。

12.根据权利要求11所述的用于半导体装置的模拟器，其中，所述半导体装置显示单元参考所述半导体装置信息存储器，并且显示具有所设置的电路配置的模拟前端电路并且满足用户指定的对于传感器的搜索条件的多个半导体装置。

13.一种用于半导体装置的模拟方法，所述半导体装置包括模拟前端电路，所述模拟前端电路的电路配置能够被改变，所述模拟方法包括：

在偏置电路信息存储器中存储传感器和向该传感器供应偏置信号的多个偏置电路；

选择要耦合到所述模拟前端电路的传感器；

参考所述偏置电路信息存储器，并且显示与所选择的传感器匹配的多个偏置电路；

根据用户的操作来从所显示的多个偏置电路中选择要耦合到所选择的传感器的偏置电路；

设置要耦合到所选择的传感器和偏置电路的所述模拟前端电路的电路配置；并且

执行耦合电路的模拟，所述耦合电路包括彼此耦合的所选择的传感器和偏置电路与所设置的电路配置的模拟前端电路。