[发明专利]基于张量距离补丁校准的高光谱数据降维方法有效

专利信息
申请号: 201310205838.X 申请日: 2013-05-28
公开(公告)号: CN103336968A 公开(公告)日: 2013-10-02
发明(设计)人: 王雪松;高阳;程玉虎 申请(专利权)人: 中国矿业大学
主分类号: G06K9/62 分类号: G06K9/62
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 杨晓玲
地址: 221008 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 基于 张量 距离 补丁 校准 光谱 数据 方法
【权利要求书】:

1.一种基于张量距离补丁校准的高光谱数据降维方法,其特征是:

该降维方法针对高光谱数据的张量特性,首先,通过窗口领域,所述的窗口领域是中心像元及其周围相近的其它像元构成的领域,将高光谱数据转化成张量形式,保持每个像素的空间信息;第二,引入张量距离,构建包含判别信息的高质张量近邻图;第三,根据扩展到张量空间的补丁校准框架,获得全局最优的光谱-空间信息;第四,采用交替最小二乘算法求得张量子空间的解;最后,根据张量最近邻法判别各样本的类别;

具体步骤如下:

步骤1,选择需进行分析的高光谱数据,根据窗口领域将高光谱数据转化成张量形式;

步骤2,计算各训练样本间张量距离dTD

步骤3,根据张量距离,构建高质张量近邻图G;

步骤4,根据高质张量近邻图选择χi补丁样本集;

步骤5,根据选择矩阵Si将局部补丁合成整体,并计算校准矩阵Ω;

步骤6,通过交替最小二乘(Alternating Least Square,ALS)计算稀疏最优函数得投影矩阵;

步骤7,用求得的投影矩阵把训练样本和测试样本投影到低维张量子空间中。

2.根据权利要求1所述一种基于张量距离补丁校准的高光谱数据降维方法,其特征在于:所述步骤1中,高光谱数据采用以下三阶张量表示:

χ=RF1+F2+F3]]>

式中,F3表示高光谱数据的光谱波段数,F1和F2分别表示单波段高光谱数据的高度和宽度,即高光谱数据的空间位置信息;是张量χ中的元素,其中1≤fl≤Fl且1≤l≤3,fl表示该元素在数组中第l阶的位置;选取中心像元B窗口领域内的像元组成高光谱数据的张量表示,即假设任一像元B的光谱向量则中心像元B的B×B窗口领域表示为:

B为窗口领域的大小且为奇数;

式中,1≤b<min(F1,F2)/2。

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