[发明专利]一种具有非抛弃式参比电极结构的电化学检测芯片有效
| 申请号： | 201310194015.1 | 申请日： | 2013-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN103308585A | 公开（公告）日： | 2013-09-18 |
| 发明（设计）人： | 陈朝贵;张晓伟;曹煊;张述伟;马然;刘乃友;罗非;张颖颖;褚东志;刘东彦;张颖;石小梅;范萍萍;吕靖;高杨;张婷;曹璐;王昭玉;王洪亮;张国华;任国兴;程岩;王茜;侯广利;刘岩 | 申请（专利权）人： | 山东省科学院海洋仪器仪表研究所 |
| 主分类号： | G01N27/416 | 分类号： | G01N27/416 |
| 代理公司： | 青岛联智专利商标事务所有限公司 37101 | 代理人： | 王晓晓 |
| 地址： | 266001 山*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 具有 抛弃 参比电极 结构 电化学 检测 芯片 | ||
【权利要求书】：
1.一种具有非抛弃式参比电极结构的电化学检测芯片，其特征在于：所述芯片上设有相互独立的电化学反应池和参比电极区域，两者之间通过金属或非金属条带连通，所述金属或非金属条带上设有微纳孔隙，所述电化学反应池内有辅助电极和工作电极，所述参比电极区域内有参比电极。
2.根据权利要求1所述的一种具有非抛弃式参比电极结构的电化学检测芯片，其特征在于：所述参比电极为Ag/AgCl-Cl-离子参比电极、Pt参比电极、金属/金属盐溶液电极。
3.根据权利要求2所述的一种具有非抛弃式参比电极结构的电化学检测芯片，其特征在于：所述金属/金属盐溶液电极为Ag/Ag+电极或Cu/CuSO4电极。
4.根据权利要求1所述的一种具有非抛弃式参比电极结构的电化学检测芯片，其特征在于：所述金属或非金属条带的材质为具有电位传导性质的Au，Pt或C。
5.根据权利要求1所述的一种具有非抛弃式参比电极结构的电化学检测芯片，其特征在于：将电化学反应池和参比电极区域分隔的芯片结构的宽度为20~200微米。
6.根据权利要求1所述的一种具有非抛弃式参比电极结构的电化学检测芯片，其特征在于：所述芯片的基底材料为聚合物、玻璃或纸芯片。
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