[发明专利]一种非均匀采样综合孔径辐射计的图像反演方法

权利要求书

1.一种非均匀采样综合孔径辐射计的图像反演方法，其特征在于，包括下述步骤：

S1：根据天线单元的位置坐标计算与天线单元对应的空间频率域中的非均匀采样点的位置，并对天线单元两两做复相关运算获得与所述天线单元对应的非均匀采样点的可见度函数的值；

S2：根据非均匀采样点的位置将空间频率域分割成多个区域，并计算每个区域的面积；

S3：根据每个区域的面积对非均匀采样点的可见度函数的值进行离散卷积运算，获得均匀采样点的可见度函数的值；

S4：对所述均匀采样点的可见度函数的值进行傅里叶逆变换，获得观测空间的中间亮温分布图像；

S5：根据中间亮温分布图像和窗函数的傅里叶逆变换的结果获得修正场景亮温图像；

S6：根据修正场景亮温图像和观测场景亮温的倾斜因子的倒数获得观测场景亮温图像。

2.如权利要求1所述的图像反演方法，其特征在于，在步骤S1中，根据公式u＝(x_i-x_j)/λ和v＝(y_i-y_j)/λ计算非均匀采样点的位置(u，v)；(x_i，y_i)表示第i个天线单元的位置坐标，(x_j，y_j)表示第j个天线单元的位置坐标，λ为辐射计接收信号的波长。

3.如权利要求1所述的图像反演方法，其特征在于，在步骤S2中，每个区域中仅包含一个非均匀采样点且区域中所有点到该非均匀采样点的距离小于到其它任意采样点的距离。

4.如权利要求1所述的图像反演方法，其特征在于，在步骤S2中，根据多边形面积公式计算每个区域的面积。

5.如权利要求1所述的图像反演方法，其特征在于，在步骤S3中，根据公式g^(ui,vi)=Σjcjw^(ui-uj,vi-vj)Vs(uj,vj)+ei]]>进行离散卷积运算；其中，(u_i，v_i)为第i个均匀采样点在空间频率域的坐标，(u_j，v_j)为第j个非均匀采样点在空间频率域的坐标，e_i表示在第i个均匀采样点(u_i，v_i)上的插值误差，c_j表示第j个区域的面积，表示窗函数，V_s(u_j，v_j)表示第j个非均匀采样点(u_j，v_j)的可见度函数的值，表示均匀采样点(u_i，v_i)的可见度函数的值。

6.如权利要求1所述的图像反演方法，其特征在于，在步骤S4中，对所述均匀采样点的可见度函数的值进行快速傅里叶变换，获得观测空间的中间亮温分布图像。