[发明专利]基于峰值波长交流发光二极管结温检测方法有效

专利信息
申请号: 201310091219.2 申请日: 2013-03-20
公开(公告)号: CN103196583A 公开(公告)日: 2013-07-10
发明(设计)人: 沈建华;张大伟;于德鲁;许键 申请(专利权)人: 上海理工大学
主分类号: G01K11/00 分类号: G01K11/00
代理公司: 上海德昭知识产权代理有限公司 31204 代理人: 郁旦蓉
地址: 200093 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 峰值 波长 交流 发光二极管 检测 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种光电元件的检测方法,特别是涉及一种基于峰值波长来检测交流发光二极管的结温的基于峰值波长交流发光二极管结温检测方法。

背景技术

目前已有技术中针对发光二极管的结温测量基本存在以下五种方法:1、通过测量管脚温度和芯片耗散功率和热阻系数求得结温;2、红外热成像法,利用红外非接触温度仪直接测量LED芯片的温度;3、利用发光光谱峰位移测定结温;4、向列型液晶热成像技术;5、利用二极管PN结电压与结温的电压温度关系曲线,来测得发光二极管的结温。

但是上述方法针对的是直流发光二极管的结温的测量,针对交流发光二极管进行结温测量时非常困难,缺乏针对交流发光二极管进行结温测量的方法。

发明内容

本发明的目的在于提供一种基于峰值波长来检测交流发光二极管的结温的基于峰值波长交流发光二极管结温检测方法。本发明对被测的交流发光二极管提供了一种非直接接触式、更安全以及测量结果受影响小更准确的检测方法。

本发明提供的一种基于峰值波长来检测交流发光二极管的结温的基于峰值波长交流发光二极管结温检测方法,具有这样的特征,具有以下步骤:将温度计与置于恒温箱内的传感器相连,用于显示恒温箱的温度,恒温箱内的温度可调节;放置被测的交流发光二极管在起始温度状态下的恒温箱中,利用温度计监控并记录恒温箱的内部温度,稳定一段时间后,当交流发光二极管的结温达到与恒温箱的温度相同时,接通交流电源单元给交流发光二极管供应连续的正弦交流电压,采用光谱仪测得交流发光二极管的光谱分布,利用斩光器来获取一定频率的周期性断续光谱中的其中一个周期光谱,并且利用采集转换单元采集一个周期中一定波长范围内的光谱的光信号并将光信号转换为电信号,根据电信号由计算机获取交流发光二极管的一定波长范围内的光谱中的起始温度状态峰值波长;调节恒温箱的温度,从起始温度状态下开始以5℃至10℃的温度间隔逐步增长,最高温度不能超过交流发光二极管最高允许工作温度,在各个温度状态下稳定一段时间后,当交流发光二极管的结温达到与恒温箱的温度相同时,给各个温度状态下的交流发光二极管分别供应相同的上述的正弦交流电压,采用光谱仪测得各个温度状态下的交流发光二极管的光谱分布,利用斩光器来获取上述相同的一个周期光谱,并且利用采集转换单元分别采集各个温度状态下的上述一个周期中上述相同的一定波长范围内的光谱的光信号并转换为电信号,根据电信号由计算机获取交流发光二极管的一定波长范围内的光谱中的各个温度状态下的峰值波长;根据各个温度下获取的交流发光二极管的峰值波长,拟合出交流发光二极管的峰值波长与温度的对应关系线;取出恒温箱中交流发光二极管,交流发光二级管的温度恢复到室温后,给交流发光二极管供应相同的上述持续的正弦交流电压,采用光谱仪测得交流发光二极管室温状态下的光谱分布,利用斩光器来获取上述相同的一个周期光谱,并且利用采集转换单元采集室温状态下上述一个周期中上述相同的一定波长范围内的光谱的光信号并转换为电信号,根据电信号由计算机获取交流发光二极管的上述一定波长范围内的光谱中在室温状态峰值波长;根据对应关系线,获得与室温状态峰值波长相对应的温度,即得在持续的正弦交流电压下交流发光二极管的室温状态下的结温,其中,连接交流电源单元与计算机,由计算机控制交流电源单元来供应连续的正弦交流电压,通过光纤连接光谱仪与交流发光二级管,连接斩光器在光谱仪与采集转换单元之间,分别连接采集转换单元和光谱仪在计算机上。

与现有技术相比,本发明的效果在于:

本发明提供的基于峰值波长交流发光二极管结温检测方法针对的是交流发光二极管并且所获得结温数据结果准确。本发明利用了交流发光二极管中的禁带宽度会随温度发生变化,从而导致交流发光二极管发出的光谱中的峰值波长也会发生变化。由于光谱仪和交流发光二极管是非直接接触,通过采集各个温度状态下的其中一个周期光谱一定波长范围内的峰值波长,为光学数据排除了对结温的温度影响,对供应的持续的正弦交流电压也没有直接接触更安全,测量结果受影响小,相对更稳定更准确。而在日常生活中普遍使用交流电,与已有技术相比,本发明提供的交流发光二极管结温检测方法实用性更强、普遍性更强。

附图说明

图1是本发明的实施例中进行交流发光二极管结温检测的系统框图;

图2是本发明的实施例中30℃下波长范围380nm至780nm内光谱曲线图;

图3是本发明的实施例中35℃下波长范围380nm至780nm内光谱曲线图;

图4是本发明的实施例中40℃下波长范围380nm至780nm内光谱曲线图;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海理工大学,未经上海理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201310091219.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top