[发明专利]一种存储器检错纠错码生成方法有效

专利信息
申请号: 201310086965.2 申请日: 2013-03-19
公开(公告)号: CN103151078A 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 周玉梅;王雷;戴睿;刘海南;蒋见花 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G11C29/42 分类号: G11C29/42
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 宋焰琴
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 存储器 检错 纠错码 生成 方法
【权利要求书】:

1.一种用于存储器加固的检错纠错码的生成方法,包括:

步骤1、根据原始数据位宽和所需纠检错能力预估校验位个数;

步骤2、初始化校验矩阵;

步骤3、从待检验的校正子向量池中逐个搜索符合线性独立要求的校正子向量填入校验矩阵;

步骤4、记录每次搜寻所产生的完整的校验矩阵,并改变向量搜寻的起始位置,重新进行搜索直至搜寻的起始位置穷尽整个校正子向量池;

步骤5、如果没有得到完整的校验矩阵,则增加校验位个数,并重复执行步骤2至4;

步骤6、如果有多个完整的校验矩阵,则从中选择一个最优的校验矩阵作为检错纠错码。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述校验矩阵由n-k单位矩阵和k×(n-k)的编码矩阵组成,其中k为原始数据位宽,n为编码数据位宽,所述编码数据包括原始数据和校验位。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,在写操作时,利用所述编码对原始数据进行编码生成并存储校验位,在读操作时,利用所述编码矩阵对原始数据进行编码,并将得到的结果与所存储的校验位进行异或运算得到校正子,然后根据校正子对数据进行纠检错操作。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待检验的校正子向量池为包含非全0所有二进制向量,且其中不包含单位向量,其位宽为校验位个数。

5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,对于二进制向量,线性独立指各个向量之间相互异或后结果不为0。

6.如权利要求2所述的方法,其特征在于,步骤2中所述初始化校验矩阵为初始化其中的单位矩阵,并将所述编码矩阵设置为待填充部分。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,步骤3具体为从校正子向量池中逐个提取校正子向量,并计算所提取的校正子向量与校验矩阵中相应数量的向量之间的线性独立性,并将与校验矩阵中相应数量的向量之间具有线性独立要求的校正子向量填充到校验矩阵待填充部分。

8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤4中,改变后的搜索起始位置大于前次搜索到的第一个有效向量,所述第一个有效向量为前次搜索时第一个填入校验矩阵的校正子向量。

9.如权利要求1所述的方法,其特征在于,步骤6中根据硬件实现上的差别选择最优的校验矩阵。

10.如权利要求7所述的方法,其特征在于,所述相应数量根据纠错检错能力确定。

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