[发明专利]铝及铝合金薄片材料包覆层厚度的测量方法

权利要求书

1.一种铝及铝合金薄片材料包覆层厚度的测量方法，包括镶嵌、研磨抛光、浸蚀和测量，其特征在于：所述镶嵌是将待测量试样与隔离薄片间隔排列成试样包，所述试样包两端为隔离薄片，在试样包两端外侧添加金属支撑，试样包与金属支撑由紧固件固定。

2.根据权利要求1所述的铝及铝合金薄片材料包覆层厚度的测量方法，其特征在于：所述隔离薄片为聚氯乙烯薄板。

3.根据权利要求1所述的铝及铝合金薄片材料包覆层厚度的测量方法，其特征在于：所述研磨抛光使用抛光剂为三氧化二铬或者三氧化二铝悬浮液。

4.根据权利要求1所述的铝及铝合金薄片材料包覆层厚度的测量方法，其特征在于：所述浸蚀步骤使用的浸蚀液由蒸馏水、95%～97%H₂SO₄和38%～40%HF按体积比37:2:1制得，浸蚀时间80s～100s。

5.根据权利要求1所述的铝及铝合金薄片材料包覆层厚度的测量方法，其特征在于：所述浸蚀步骤使用的浸蚀液由蒸馏水和38%～40%HF按体积比2:1制得，浸蚀时间10s～20s。