[发明专利]一种光电二极管芯片的筛选方法无效
| 申请号： | 201310062653.8 | 申请日： | 2013-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN103143507A | 公开（公告）日： | 2013-06-12 |
| 发明（设计）人： | 陈如山;金灿;陈晓莉;王权兵 | 申请（专利权）人： | 武汉电信器件有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/00 | 分类号： | B07C5/00;B07C5/342;B07C5/344;H01L31/18 |
| 代理公司： | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人： | 程殿军 |
| 地址： | 430074 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 光电二极管 芯片 筛选 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种光电二极管芯片的筛选方法，其特征在于，该方法包括：
步骤一、取解理好的芯片进行光电测试，利用打点器在不合格芯片上喷打UV胶水进行标记；
步骤二、测试完成后将电子级透明玻璃纸贴到芯片的上表面，使UV胶水与不合格芯片及玻璃纸充分的接触；
步骤三、将盖好玻璃纸的芯片放入紫外灯下照射，使UV胶水固化从而使不合格芯片与玻璃纸充分粘合；
步骤四、将芯片从紫外灯下取出，撕去玻璃纸，通过UV胶水与玻璃纸间的粘性将测试不合格的芯片一次性剔除。
2.如权利要求1所述的光电二极管芯片的筛选方法，其特征在于，所述UV胶水在室温下成液态，且流动性适中，既不会过粘堵塞打点器，又不能过稀流动性过大造成对周围合格芯片的污染。
3.如权利要求1所述的光电二极管芯片的筛选方法，其特征在于，所述步骤三中，照射时间至少为5秒。
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