[发明专利]扩散峭度张量成像的高阶张量特征参数提取方法

权利要求书

1.一种扩散峭度张量成像的高阶张量特征参数提取方法，其特征是，包括如下步骤：通过受试者在磁共振扫描仪上采集组织沿多个方向的扩散加权信号，拟合得到反映组织内水分子扩散分布概率密度函数特征的二阶及四阶张量，通过一定的张量分析得到由于组织结构异常引起的水分子扩散分布异常的病变特征，主要有扩散系数和峭度系数两个不同角度的参数。

2.如权利要求1所述的扩散峭度张量成像的高阶张量特征参数提取方法，其特征是对应张量矩阵的特征值和特征向量，采集组织沿多个方向的扩散加权信号进一步细化为：

1.1数据的采集

在3.0T的磁共振扫面仪器上，采用单次激发平面回波(SE-EPI)序列进行30个敏感梯度方向3个扩散敏感因子b值的扩散加权DWI信号采集；

1.2数据的预处理

首先采用FSL（the FMRIB Software Library）软件的FDT对数据进行涡流矫正和头动矫正操作，以及SUSAN对数据进行初步的去噪处理，其次在张量拟合再对数据进行非局部均值滤波操作；

采用非局部的均值滤波（Non Local Means Filter）方法，对每个像素点x_i处理如下式（5-1）：

NL(v)(xi)=Σxi∈Iw(xi,yi)v(xj)(5-1)]]>

这里，I代表待处理图像；v(x_j)代表像素x_j的灰度值；NL(v)(x_i)代表像素v(x_j)经过非局部均值滤波的结果；w(x_i，x_j)代表恢复v(x_i)对应于v(x_j)的权值；其中i和j均代表像素的索引编号：

w(xi,yj)=1z(i)ed(v(Ni),v(Nj))(hθ)2(5-2)]]>

这里，Z(i)是标准化的常数Z(i)＝∑_jw(i，j)，θ是使用残差方法估计的噪声标准偏差，h是一个滤波参数，距离d表示为如下：d(v(Ni),v(Nj))=1NΣkNΔ(v(yk),v(zk)),]]>这里N＝card(N_i)＝card(N_j)，y_k和z_k分别代表x_i和y_j领域N_i和N_j的第k个点，对于灰度级图像，Δ(v(y_k)，v(z_k))＝|(v(y_k)，v(z_k))||。