[发明专利]对光学元件表面污染物进行清理的装置和方法有效

专利信息
申请号: 201310038460.9 申请日: 2013-01-31
公开(公告)号: CN103100539A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: 张晓兵;肖梅;陈振乾;夏柱红;康学军;祁争健 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: B08B7/04 分类号: B08B7/04;B08B5/02;B08B7/00
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 柏尚春
地址: 210096*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 光学 元件 表面 污染物 进行 清理 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种对光学原件表面污染物进行清理的装置,其特征在于:该装置包括真空腔体(5)、设于真空腔体(5)内部的闪光灯光源(1)、气体吹扫头(3)、光学元件(4)、设于真空腔体(5)外部的闪光灯电源(2)、真空机组(6);

闪光灯电源(2)通过穿过真空腔体(5)的电极引线(7)与闪光灯光源(1)相连并为其提供工作电压;

闪光灯光源(1)放在需要进行污染物清理的光学元件(4)的内部表面附近,使其工作时发出的光线(10)作用到光学元件(4)需要清理的表面;

闪光灯光源(1)工作时,气体吹扫头(3)用于喷射气体(8),并该喷射气体(8)作用在光学元件(4)和需要清理的真空腔体(5)内表面上,在闪光灯光源(1)作用下光学元件(4)表面和真空腔体(5)内表面释放的污染物(9)发生反应或被气流带走。

2.根据权利要求1所述的对光学原件表面污染物进行清理的装置,其特征在于:气体吹扫头(3)喷射的气体(8)是无机气体或有机易挥发气体或上述气体的混合物。

3.根据权利要求1所述的对光学原件表面污染物进行清理的装置,其特征在于:无机气体是惰性气体、氢气、氮气,有机易挥发气体是酒精、丙酮。

4.根据权利要求1所述的对光学原件表面污染物进行清理的装置,其特征在于:闪光灯光源(1)为高功率密度光源,发出的光作用在光学元件(4)表面或真空腔体(5)内表面时,使沉积在这些表面上的污染物(9)从表面释放出来,并使部分释放出来的污染物成分发生电离,或与吹扫气体(8)发生反应产生形成新的气体成分被真空机组(6)抽出真空腔体(5)。

5.根据权利要求4所述的对光学原件表面污染物进行清理的装置,其特征在于:所述高功率密度光源包括脉冲氙灯、卤素灯、固体激光光源。

6.一种对光学原件表面污染物进行清理的方法,其特征在于:该方法包括如下步骤:

闪光灯光源(1)放在需要进行污染物清理的光学元件(4)以及真空腔体(5)的内部表面附近,使其工作时发出的光作用到需要清理的表面;

采用真空机组(6)对真空腔体(5)抽真空后,开启闪光灯电源(2)使闪光灯光源(1)工作,并同时用气体吹扫头(3)对需要清理的表面吹出气体(8);

闪光灯光源(1)发出的光作用在光学元件(4)表面或真空腔体(5)内表面时,使沉积在这些表面上的污染物(9)从表面释放出来,并使部分释放出来的污染物成分发生电离,或与吹扫气体(8)发生反应产生形成新的气体成分被真空机组(6)抽出真空腔体(5)。

7.根据权利要求6所述的对光学原件表面污染物进行清理的方法,其特征在于:采用真空机组(6)对真空腔体(5)抽真空并同时对真空腔体(5)内部采用吹扫头(3)对真空腔体(5)内部连续吹气,然后开启闪光灯电源(2)使闪光灯光源(1)工作,释放出的污染物(9)与吹扫气体(8)一起被真空机组(6)抽出真空腔体(5)。

8.根据权利要求6所述的对光学原件表面污染物进行清理的方法,其特征在于:当吹扫气体(3)是氢气或有机气体时,在真空机组(6)排气口进行防爆处理。

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