[发明专利]检测触摸的方法

权利要求书

1.一种触摸面板装置，包括：

静电电容型触摸面板单元，具有在X方向和Y方向上布置的多个透明电极；

电势检测单元，被构造为扫描所述多个透明电极并且检测X方向和Y方向上的坐标处的静电电容值；

对象类型检测单元，被构造为基于从由电势检测单元检测的静电电容值的分布形状获得的信息，检测接近或接触触摸面板单元的表面的对象的类型；以及

操作位置检测单元，被构造为基于由对象类型检测单元检测的对象的类型，改变用于计算对象的触摸位置的数据提取阈值，并且基于改变后的数据提取阈值，检测对象接近或接触触摸面板单元的表面的位置的坐标。

2.根据权利要求1所述的触摸面板装置，其中，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置到能够提取在相邻的透明电极之中静电电容值之间的差大的部位的位置，并且在静电电容值的分布形状的中心附近存在峰值。

3.根据权利要求1所述的触摸面板装置，其中，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置为与形成静电电容值的分布形状的参数之中的分布形状的底边的宽度对应的值。

4.根据权利要求3所述的触摸面板装置，其中，当分布形状的底边的宽度小时，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置为与该宽度对应的低值，并且当分布形状的底边的宽度大时，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置为与该宽度对应的高值。

5.根据权利要求3所述的触摸面板装置，其中，当分布形状的底边的宽度小于预定宽度时，操作位置检测单元确定触摸触摸面板装置的对象是笔或触笔，并且增加电势检测单元的扫描速率。

6.根据权利要求3所述的触摸面板装置，其中，当分布形状的底边的宽度大于或等于预定宽度时，操作位置检测单元确定触摸触摸面板的对象是具有非常大尺寸的手指，并且向由电势检测单元扫描的数据应用均值滤波。

7.根据权利要求1所述的触摸面板装置，其中，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置为第一宽度变成与第二宽度相同的值的值，其中，第一宽度是分布形状中的具有与用于计算触摸位置的数据提取阈值相同的值的部分的宽度，第二宽度是当具有假设为人的食指拥有的直径的直径的对象触摸触摸面板装置时获得的分布形状中的、具有与被优化以计算人的食指的触摸位置的用于计算触摸位置的数据提取阈值相同的值的部分的宽度。

8.根据权利要求1所述的触摸面板装置，其中，用于计算触摸位置的数据提取阈值基于形成静电电容值的分布形状的参数之中的分布形状的倾度的信息而改变。

9.根据权利要求8所述的触摸面板装置，其中，当分布形状的底边的宽度小于预定宽度时，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置到分布形状的倾度最陡的部位，并且当分布形状的底边的宽度大于或等于预定宽度时，用于计算触摸位置的数据提取阈值被设置到分布形状的倾度最陡的部位与倾度适中的部位之间的边界中的静电电容值较高的边界。

10.一种在包括具有布置在X方向和Y方向上的多个透明电极的静电电容型触摸面板单元的触摸面板装置上实现的检测方法，包括：

扫描所述多个透明电极并且检测X方向和Y方向上的坐标处的静电电容值；

基于从检测的静电电容值的分布形状获得的信息，检测接近或接触触摸面板单元的表面的对象的类型；以及

基于检测的对象的类型，改变用于计算对象的触摸位置的数据提取阈值，并且基于改变后的数据提取阈值，检测对象接近或接触触摸面板单元的表面的位置的坐标。