[发明专利]容器涂层的质量检测

权利要求书

1.一种用于测试和检测通过等离子体处理的方式涂覆的容器的方法，所述容器，例如，塑料瓶，用例如无定形的氧化硅或碳化合物涂覆，所述方法包括：在等离子体涂覆处理之后，通过测量仪器以例如质谱方式的示踪气体分析方式来测试所述容器，用于检测从容器材料逸出的不希望的杂质，例如，乙醛和/或锑。

2.根据权利要求1所述的方法，所述方法包括：在线测试所述容器的不希望的杂质，即，以运行生产工艺和处理工艺的速度进行测试，例如，在小于0.1、1、10或100ms/容器的测试周期内进行。

3.根据前述权利要求中任一项所述的方法，所述方法包括：通过取样器测试包含在所述容器中空气，用于检测从容器材料逸出的不希望的杂质。

4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，所述方法包括：将标准气体例如环境空气、工业纯化的空气、惰性气体、稀有气体、稀有气体的混合物或者上述气体的组合吹入需要检测的容器中；和通过测量仪器测试从所述容器逸出的至少部分的测试气体，用于检测从容器材料逸出的不希望的杂质。

5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，所述方法包括：如果检测到超过了预先确定的浓度的极限值，例如，相对于特定的不希望的杂质，如果超过极限值的0.1、1、5、10或者100%，可以将测试的容器划分为和/或标记为，例如，未充分涂覆和/或可以最终从生产中除去和/或转移至新的等离子体涂覆处理。

6.根据权利要求5所述的方法，所述方法包括：相对于特定的不希望的杂质，预先确定的浓度的极限值取决于需要测试的容器的温度，例如，需要测试的容器的内部温度，其中，例如，相对于特定的不希望的杂质，具有30℃、50℃或更高的内部温度的容器可容许的预先确定的浓度的极限值高于具有对应于室温的内部温度的容器的预先确定的极限值。

7.根据前述权利要求中任一项所述的方法，所述方法包括：在等离子体涂覆处理之前，向需要测试的容器接种一种示踪物质/多种示踪物质，例如，对食品接触无影响的物质，例如氙，并且在等离子体涂覆处理之后，然后利用示踪气体分析测试所述容器，用于检测从容器材料逸出的示踪物质。

8.一种设备，用于通过等离子体处理的方式涂覆容器，例如，塑料瓶；以及用于测试和检测通过等离子体处理得到的容器涂层，所述设备包括至少一个用于涂覆容器的等离子体处理单元，以及包括至少一个测量仪器，例如，质谱仪，其特征在于，所述测量仪器(M)被配置为能够测试通过等离子体处理单元(P)涂覆的容器，用于检测从容器材料逸出的不希望的杂质。

9.根据权利要求8所述的设备，其特征在于，所述测量仪器另外地包括至少一个取样器，如此配置所述取样器，使得至少一个取样器(N)能够采集至少部分的包含在需要测试的容器中的空气并将其传递到测量仪器(M)中。

10.根据前述权利要求8至9中任一项所述的设备，其特征在于，所述测量仪器另外地包括至少一个注入单元和至少一个取样器，如此配置所述注入单元和取样器，使得所述至少一个注入单元(I)能够将标准气体吹入需要测试的容器(B)中，以及所述至少一个取样器(N)能够采集至少部分的从需要测试的容器逸出的测试气体(K)并将其传递到测量仪器(M)中。

11.根据前述权利要求8至10中任一项所述的设备，其特征在于，所述测量仪器另外地包括至少一个温度感应器(T₁,T₂)，所述感应器能够测量需要处理和/或测试的容器(B)的温度，例如，内部温度。