[发明专利]用于监测承载构件的温度补偿有效

专利信息
申请号: 201280074448.7 申请日: 2012-07-03
公开(公告)号: CN104428233A 公开(公告)日: 2015-03-18
发明(设计)人: M.贾芬克尔;P.克约;P.利亚斯卡斯 申请(专利权)人: 奥的斯电梯公司
主分类号: B66B7/12 分类号: B66B7/12;B66B7/06;B66B13/24
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 谭佐晞;肖日松
地址: 美国康*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 用于 监测 承载 构件 温度 补偿
【权利要求书】:

1.一种系统,其包括:

可移动的质量块;

承载构件,所述承载构件包括支撑与移动所述质量块相关联的载荷的至少一个导电张紧构件;

导电构件,所述导电构件沿所述张紧构件的路径的选定部分定位以使得所述导电构件不承受所述张紧构件上的载荷;以及

处理器,所述处理器被配置用于

测定所述张紧构件的电阻以作为所述张紧构件的状态的指示器,

测定所述导电构件的电阻,并且

使用所测定的所述导电构件的电阻来补偿所测定的所述张紧构件的电阻经受的任何环境影响。

2.如权利要求1所述的系统,其中所述处理器被配置用于

监测在选定时间内所述导电构件的电阻;

测定受监测电阻在所述选定时间期间经受的任何环境影响;并且

补偿所测定的所述张紧构件的电阻在所述选定时间期间所经受的所测定影响。

3.如权利要求2所述的系统,其中所述处理器被配置用于

测定在第一测量周期期间所述导电构件的基准电阻;

确定所述导电构件的所述电阻是否不同于第二测量周期期间的基准电阻;

测定在所述第二测量周期期间所述电阻经受的温度影响;

测定在所述第二测量周期期间所述张紧构件的电阻;并且

基于在所述第二测量周期期间所测定的所述张紧构件的电阻和在所述第二测量周期期间所测定的温度影响来测定所述张紧构件在所述第二测量周期期间的状态。

4.如权利要求1所述的系统,其中所述导电构件是沿井道的壁定位。

5.如权利要求1所述的系统,其中所述导电构件至少部分地固定到导轨。

6.如权利要求1所述的系统,其中所述导电构件被支撑在所述承载构件上或其中。

7.如权利要求6所述的系统,其中所述承载构件包括护套并且所述导电构件被收容在所述护套内。

8.如权利要求7所述的系统,其中所述承载构件包括位于所述护套内的多个张紧构件,并且所述导电构件比所述张紧构件中的任何一个都更接近所述护套的边缘。

9.如权利要求6所述的系统,其中所述张紧构件具有第一刚性并且所述导电构件具有第二较小的刚性。

10.一种监测系统中的承载构件的状态的方法,所述承载构件包括至少一个导电张紧构件,所述方法包括以下步骤:

使导电构件沿所述承载构件的路径的所需长度定位,以使得所述导电构件不承受所述张紧构件上的载荷;

测定所述张紧构件的电阻以作为所述张紧构件的状态的指示器;

测定所述导电构件的电阻;以及

使用所测定的所述导电构件的电阻来补偿所测定的所述张紧构件的电阻经受的任何环境影响。

11.如权利要求10所述的方法,其包括

监测在选定时间内所述导电构件的电阻;

测定所述受监测电阻在所述选定时间期间经受的任何环境影响;以及

补偿所测定的所述张紧构件的电阻在所述选定时间期间经受的所测定影响。

12.如权利要求11所述的方法,其包括

测定在第一测量周期期间所述导电构件的基准电阻;

确定所述导电构件的所述电阻是否不同于第二测量周期期间的基准电阻;

测定所述电阻在所述第二测量周期期间经受的温度影响;

测定在所述第二测量周期期间所述张紧构件的电阻;以及

基于在所述第二测量周期期间所测定的所述张紧构件的电阻和在所述第二测量周期期间所测定的温度影响来测定所述张紧构件在所述第二测量周期期间的状态。

13.如权利要求10所述的方法,其中所述定位包括使所述导电构件沿电梯井道的壁放置。

14.如权利要求10所述的方法,其中所述定位包括使所述导电构件至少部分地固定到电梯井道中的导轨。

15.如权利要求10所述的方法,其中所述定位包括使所述导电构件包括在所述承载构件上或其中。

16.如权利要求15所述的方法,其中所述承载构件包括护套并且所述导电构件被收容在所述护套内。

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