[发明专利]光学测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及用于与照射角相关联地对自光源照射的光进行检测的光学测量装置。

背景技术

作为用于评价光源性能的指标之一，已知有光的放射特性。配光特性可以作为这种放射特性的典型例子被列举出来。配光特性是指发光强度相对于角度的变化或者分布。绝对发光强度和相对发光强度中的任一种都被作为这种配光特性来使用。绝对发光强度的配光特性被应用于要求光源所发出的整个光束那样的情况等。另一方面，相对发光强度的配光特性被应用于要求配光图案的情况等。

作为用于测量这样的配光特性的装置的现有技术，例如有日本特开平07-294328号公报(专利文件1)、日本特开2003-247888号公报(专利文件2)等。

关于配光特性的测量，在日本工业标准中，规定有JIS C8105-5:2011(照明器具－第5部：配光测量方法)(非专利文件1)。

通常，在针对大型照明器具等光源测量配光特性的情况下，采用通过使反射镜转动而将自光源照射的光引导至受光器这样的构造。在这样的测量装置中，典型的是将测量对象的光源配置为可以绕铅垂轴线旋转，将反射镜配置为可以绕水平轴线旋转。配光测量装置主要分为两种。一种是反射镜在中央处旋转，光源在该反射镜周围旋转的方式(以下也记为“Moving Sample方式”。)，另一种是反射镜在光源的周围旋转的方式(以下也记为“Moving Mirror方式”。)。

更具体的说，在Moving Sample方式中，构成为使连结反射镜的中心和受光器的线与反射镜的旋转轴线相一致。在该方式中，容易依赖于光源的大小、光量而使测光距离(从光源到受光器的距离)变化。并且，在Moving Mirror方式中，连结光源的测光中心和受光器的线与反射镜的旋转轴线一致。在该方式中，不能使测光距离变化。

专利文献1:日本特开平07-294328号公报

专利文献2:日本特开2003-247888号公报

非专利文献1:JIS C8105-5:2011(照明器具－第5部：配光测量方法)，日本标准协会，2011年12月20日制定

发明内容

发明要解决的课题

因为从反射镜到受光器为止的光轴不变，所以上述的Moving Sample方式在测量方面具有优点。不过，由于在测量中光源在空间中移动，因此存在下述课题：在对特性因姿态而变化的放电灯、特性因周围温度而变化的LED照明器具这样的光源进行测量的情况下，特性不稳定。

另外，Moving Mirror方式由于反射镜在光源的周围移动而光源自身不移动，因此存在如下优点：能够将周围温度保持恒定，能够使测量中的光源的特性稳定化。但因为从反射镜到受光器为止的光轴变化，所以存在易受到受光器的受光角特性的影响、以及难以解决杂散光这样的问题。

本发明的目的在于提供与上述现有技术所公开的构造、方法不同的新的、用于与照射角相关联地对自光源照射的光进行检测的光学测量装置。

用于解决问题的方案

根据本发明的一个技术方案，提供一种用于与照射角相关联地对自光源照射的光进行检测的光学测量装置。光学测量装置包括：中空的圆筒状构件，其在一个平面上具有第一开口，并且在另一平面上具有第二开口；旋转机构，其用于使圆筒状构件绕圆筒状构件的中心轴即第一轴线旋转；支承部，其用于将光源配置于测量位置，该测量位置在第一轴线上，且该测量位置为所照射的光穿过第一开口而入射到圆筒状构件的内部的位置；第一反射部，其配置在圆筒状构件的内部，用于反射从光源穿过第一开口而入射的光；第二反射部，其用于反射圆筒状构件的内部的光，使该光穿过第二开口而沿第一轴线向圆筒状构件的外部传播；以及至少一个第三反射部，其用于使第一反射部的反射光向第二反射部入射。

优选支承部构成为使光源能够绕与第一轴线正交的第二轴线旋转。

优选旋转机构包含用于旋转支承圆筒状构件的辊。

优选光学测量装置还包含配置在第一轴线上的受光部。

优选支承部包含用于支承多个光源的臂部和通过旋转臂部来依次切换配置于测量位置的光源的部件。

优选第三反射部含有多个反射部，该多个反射部配置为将来自光源的光导向与第一轴线正交的方向。

更加优选第三反射部构成为使来自光源的光绕第一轴线旋转至少一部分。

发明的效果