[发明专利]具有纳米晶体核和纳米晶体壳的半导体结构在审

专利信息
申请号: 201280064403.1 申请日: 2012-09-14
公开(公告)号: CN104302729A 公开(公告)日: 2015-01-21
发明(设计)人: 朱厄妮塔·库尔京;马修·J·卡里洛;史蒂文·休斯 申请(专利权)人: 太平洋光技术公司
主分类号: C09K11/02 分类号: C09K11/02;C09K11/06;B82B1/00;B82B3/00
代理公司: 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 代理人: 康泉;王珍仙
地址: 美国俄*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 具有 纳米 晶体 半导体 结构
【说明书】:

相关申请的交叉引用

本申请要求2011年11月9日递交的美国临时申请61/557,653、2011年11月11日递交的美国临时申请61/558,965和2011年11月11日递交的美国临时申请61/558,974的权益,其全部内容通过引用合并于此。

技术领域

发明的实施方式属于用于发光二极管(LED)的量子点领域,并且具体地为具有纳米晶体核和相应的纳米晶体壳的半导体结构。

背景技术

具有高光致发光量子产率(PLQY)的量子点可被用作在固态照明应用中使用的下转换纳米复合材料中的下转换材料。下转换材料在照明应用中,具体地在发光二极管(LED)中被用来改善性能、效率和颜色选择。在该应用中,量子点吸收特定的第一(可用或选择的)波长的光,通常为蓝光,然后发出第二波长的光,通常为红光或绿光。

发明内容

本发明的实施方式包括具有纳米晶体核和相应的纳米晶体壳的半导体结构。

在一个实施方式中,半导体结构包括各向异性纳米晶体核,所述纳米晶体核由第一半导体材料组成并具有在1.0和2.0之间但不包括1.0和2.0的宽高比。所述半导体结构还包括至少部分包围所述各向异性纳米晶体核的由不同的第二半导体材料组成的纳米晶体壳。

在另一个实施方式中,量子点包括由第一半导体材料组成的纳米晶体核。所述量子点还包括至少部分包围所述纳米晶体核的由不同的第二半导体材料组成的纳米晶体壳。量子点具有至少90%的光致发光量子产率(PLQY)。

在另一个实施方式中,照明设备包括发光二极管。所述照明设备还包括多个量子点。每个量子点包括由第一半导体材料组成的纳米晶体核和至少部分包围所述纳米晶体核的由不同的第二半导体材料组成的晶体壳。每个量子点具有至少90%的光致发光量子产率(PLQY)。

在另一个实施方式中,制造半导体结构的方法包括形成来自第一半导体材料的各向异性纳米晶体核。所述各向异性纳米晶体核具有在1.0和2.0之间但不包括1.0和2.0的宽高比。纳米晶体壳由不同的第二半导体材料形成以至少部分包围所述各向异性纳米晶体核。

在另一个实施方式中,半导体结构包括由第一半导体材料组成的各向异性纳米晶体核。所述半导体结构还包括至少部分包围所述纳米晶体核的由不同的第二半导体材料组成的纳米晶体壳。所述各向异性纳米晶体核以相对于所述纳米晶体壳不对称的方向布置。

附图说明

图1为描述作为传统量子点的波长函数的现有技术的核/壳吸光度(左边的y轴)和发射光谱强度(右边的y轴)的图。

图2为根据本发明的实施方式说明量子点的示意性截面图。

图3为根据本发明的实施方式说明用于测量绝对光致发光量子产率的积分球的示意图。

图4为根据本发明的实施方式在光致发光量子产率的测量中使用的样品的作为以纳米计的波长的函数的光子计数和对照发射光谱的图。

图5为包括根据本发明的实施方式的红色CdSe/CdS核/壳量子点的UV-Vis吸收光谱和光致发光发射光谱的图。

图6为包括根据本发明的实施方式的绿色CdSe/CdS核/壳量子点的UV-Vis吸收光谱和光致发光发射光谱的图。

图7为说明根据本发明的实施方式在反胶束方法中涂布半导体结构的操作图。

图8为根据本发明的实施方式的具有完整的二氧化硅封装的二氧化硅涂布的CdSe/CdS核/壳量子点的透射电子显微镜(TEM)图。

图9A至9C说明根据本发明的实施方式用于量子点整合的可能的复合材料组合物的图示。

图10为根据本发明的实施方式的核/壳CdSe/CdS量子点的样品的透射电子显微镜(TEM)图。

图11为根据本发明的实施方式的包括具有96%的PLQY的CdSe/CdS核/壳量子点的UV-Vis吸收光谱和光致发光发射光谱的图。

图12为根据本发明的实施方式的具有96%的PLQY的CdSe/CdS量子点的样品的透射电子显微镜(TEM)图。

具体实施方式

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