[发明专利]成列衰减时间扫描仪有效
| 申请号: | 201280027817.7 | 申请日: | 2012-06-01 |
| 公开(公告)号: | CN103597522A | 公开(公告)日: | 2014-02-19 |
| 发明(设计)人: | M·瓦西克;N·杜卡 | 申请(专利权)人: | 锡克拜控股有限公司 |
| 主分类号: | G07D7/12 | 分类号: | G07D7/12;G01N21/64 |
| 代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 杨晓光;于静 |
| 地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 衰减 时间 扫描仪 | ||
1.一种扫描仪,用于沿着第一方向中的路径从移动经过所述扫描仪的发光材料中确定发光的强度分布,当采用在第一波长范围内的激发光的照明时所述发光材料发射在第二波长范围内的所述发光,所述扫描仪包括:
电源;
光源,其被连接到电源并且当通过电源供电时可操作地采用所述激发光照明在照明区域内的发光材料;
光传感器,其可操作地测量从位于所述扫描仪的检测带内的发光材料中接收的所述发光的强度,并且传送相应的发光强度信号;以及
控制单元,其被连接到光传感器并且可操作地从通过光传感器传送的发光强度信号中确定所述接收的发光的强度分布,
所述扫描仪的特征在于:
所述照明区域处于沿着所述路径的第一位置处;
所述检测带处于沿着所述路径的随后第二位置处并且沿着所述路径的一部分延伸;
所述光传感器可操作地在沿着横跨检测带的第一方向中的路径的其运动期间从发光材料中收集发光,并且测量在所述第二波长范围内的所述收集的发光的强度,并且传送相应的发光强度信号;以及
所述控制单元可操作地控制所述电源、光源和光传感器,并且响应于采用在所述照明区域内的所述激发光的照明,当接收通过在第一方向中横跨所述检测带移动的所述发光材料发射的发光时,从通过所述光传感器传送的发光强度信号中确定所述强度分布。
2.根据权利要求1所述的扫描仪,其中在所述第二波长范围内的所述光传感器的响应在所述检测带上方基本上均匀。
3.根据权利要求1所述的扫描仪,其中
所述光传感器包括沿着所述第一方向连续设置的多个光电检测器,每一个光电检测器可操作以在第二波长范围内测量从在检测带内的相应检测区域中接收的发光的强度,并且传送相应的光电检测器发光强度信号,该组相应的检测区域覆盖所述检测带;以及
所述控制单元可操作以当接收通过在沿着第一方向中的所述路径横跨所述检测区域移动的所述发光材料发射的发光时,从通过所述光传感器传送的发光强度信号中确定所述强度分布。
4.根据权利要求3所述的扫描仪,其中所述光电检测器是并联连接的光电二极管。
5.根据权利要求3或4所述的扫描仪,其中
所述多个光电检测器的任何两个连续的光电检测器被设置为具有部分重叠的它们的相应检测区域,以使得在所述第二波长范围内的光传感器的响应在所述检测带上方基本上均匀。
6.根据权利要求1所述的扫描仪,其中
光传感器包括多个光波导,每一个光波导具有可操作以从在所述检测带内的相应检测区域中收集发光的入口,该多个波导入口沿着所述第一方向连续地设置并且该组相应的检测区域覆盖所述检测带。
7.根据权利要求6所述的扫描仪,其中所述光波导是光纤。
8.根据权利要求6或7所述的扫描仪,其中
所述光波导被设置为具有部分重叠的它们的相应检测区域,以使得在所述第二波长范围内的光传感器的响应在所述检测带上方基本上均匀。
9.根据权利要求1至8中的任何一项所述的扫描仪,其中所述光传感器进一步包括可操作以聚焦从检测带中接收的发光的聚焦装置。
10.根据权利要求1至9中的任何一项所述的扫描仪,其中所述光源包括多个LED和可操作以从在所述照明区域上的所述LED中聚焦激发光的聚焦部件。
11.根据权利要求1至10中的任何一项所述的扫描仪,其进一步包括:
触发单元,其可操作以检测发光材料处于光源的照明区域内,并且传送相应的触发信号;以及
所述控制单元进一步可操作以当从触发单元接收所述触发信号时控制光源将激发光脉冲传送到在照明区域内的发光材料,并且在照明已经停止之后控制光传感器来获取强度分布。
12.根据权利要求3至11中的任何一项所述的扫描仪,其中
所述扫描仪进一步包括位置传感器,该位置传感器可操作以确定在所述检测带内的发光材料的位置并且传送相应的位置信号;
控制单元进一步可操作以从所述位置传感器中接收位置信号,并且仅从与在连续检测区域的每一个区域内的发光材料的连续位置对应的连续发光强度信号中确定所述强度分布,在该连续检测区域处光传感器的辐射最大。
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