[发明专利]多孔闪烁体晶体

说明书

技术领域

本发明涉及闪烁体，即由放射线激发时发光的材料。更具体地，本发明涉及具有能够将从闪烁体发出的光引导到光电检测器(photodetector)的功能的多孔闪烁体晶体(porous scintillator crystal)并且还涉及其制造方法。本发明还涉及使用多孔闪烁体晶体的放射线检测器。

背景技术

临床现场中采用的X-射线平板检测器(FPD)中，由闪烁体接收透过对象的X-射线并且由光电检测器检测从闪烁体发出的光。以两维阵列配置光电检测器并且闪烁体被空隙分开以不产生任何光的串扰。使从闪烁体的内部发出的光反复在空隙的边界反射以抑制在与光的行进方向垂直的平面方向上的光的散射。结果，能够获得高度清晰的放射线图像(参见PTL1-3)。

例如，PTL1公开了将通过使荧光材料分散于水中而制备的浆料涂布于基板，使该浆料冻结以在浆料中形成冰柱，随后将该冰柱除去和对得到的基板进行烧结以在荧光材料的浆料中产生空隙的方法。

引用列表

专利文献

PTL1：日本专利申请公开No.2007-155485.

PTL2：日本专利公开No.H07-18958

PTL3：日本专利申请公开No.2007-303876

发明内容

技术问题

但是，对于PTL1中公开的方法，由烧结的细颗粒形成具有空隙的闪烁体部分，以致在到达检测器前闪烁体中产生的光通过晶粒间界多次。结果，在它们的界面发生光的散射以产生闪烁体的空间分辨力降低的问题。

因此，鉴于现有技术的上述问题，本发明的目的是提供闪烁体晶体，其为其中形成有空隙的单晶(相分离结构体)，因此能够抑制光的散射并且表示高空间分辨力。

问题的解决方案

根据本发明，通过提供多孔闪烁体晶体而实现上述目标，该多孔闪烁体晶体包括多孔结构，该多孔结构包括空隙，其中该多孔结构是其中形成有空隙的相分离结构并且包括构成该相分离结构的共晶组成的材料，并且该多孔结构中至少一个空隙在与该多孔闪烁体晶体的面垂直的方向上延伸。

根据本发明，还提供放射线检测器，其包括光电检测器和经配置以面向该光电检测器的多孔闪烁体晶体，其中该多孔闪烁体晶体包括多孔结构，该多孔结构包括空隙，该多孔结构是其中形成有空隙的相分离结构并且包括构成该相分离结构的共晶组成的材料、与该多孔闪烁体晶体的面垂直的方向上延伸的多孔结构中的至少一个空隙，并且以使该空隙与该光电检测器垂直地对向的方式配置该空隙。

根据本发明，还提供多孔闪烁体晶体的制造方法，包括：形成结构体的步骤，该结构体包括相分离结构，该相分离结构具有多个单向性(一方向性)的第一晶相和覆盖该第一晶相的侧面的第二晶相；和将该结构体的第一晶相除去的步骤。

发明的有利效果

因此，根据本发明，能够得到在单晶(相分离结构体)中形成有空隙的闪烁体晶体。结果，这样的闪烁体晶体不具有任何能够诱导光的散射的晶体界面以致将闪烁体晶体中产生的光有效地引导到光电检测器，因此能够得到高度清晰的放射线像。

由以下参照附图对例示实施方案的说明，本发明进一步的特征将变得清楚。

附图说明

图1是根据本发明的例示多孔闪烁体晶体的示意图。

图2是根据本发明的另一例示多孔闪烁体晶体的示意图。

图3A是根据本发明的多孔闪烁体晶体的制造装置的横截面示意图。

图3B是根据本发明的多孔闪烁体晶体的制造装置的另一横截面示意图。

图4是通过扫描电子显微镜观察的CuI-KC1系相分离结构的横截面的图像。

图5A是通过扫描电子显微镜观察的根据本发明的多孔闪烁体晶体的横截面的图像。

图5B是通过扫描电子显微镜观察的根据本发明的多孔闪烁体晶体的横截面的另一图像。

图5C是通过扫描电子显微镜观察的根据本发明的多孔闪烁体晶体的横截面的另一图像。

图5D是通过扫描电子显微镜观察的根据本发明的多孔闪烁体晶体的横截面的另一图像。

图6是用X-射线激发时发光的CuI-系多孔闪烁体晶体的发射光谱。

图7是根据本发明的放射线检测器的横截面示意图。

图8A是表示根据本发明的多孔闪烁体晶体的发光传播特性的图。

图8B是表示根据本发明的多孔闪烁体晶体的发光传播特性的另一图。

图8C是表示根据本发明的多孔闪烁体晶体的发光传播特性的另一图。