[发明专利]电磁断开/闭合设备无效

专利信息
申请号: 201280013869.9 申请日: 2012-03-07
公开(公告)号: CN103443896A 公开(公告)日: 2013-12-11
发明(设计)人: 小玉和广 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01H47/00 分类号: H01H47/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 潘剑颖
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 电磁 断开 闭合 设备
【说明书】:

技术领域

本发明涉及诸如电磁继电器之类的电磁断开/闭合设备。

背景技术

例如,日本专利申请公开No.2009-230921(下文中的“文献1”)公开了电磁断开/闭合设备的现有技术。在文献1描述的设备中,继电器单元(电磁继电器)被放入由合成树脂制造的箱子中,并且从箱子中伸出一对主端子和一对线圈端子。这对主端子被连接到继电器单元的触点,而这对线圈端子被连接到继电器单元的电磁体的线圈。此外,这对主端子被连接到从电源到负载的电源线。当励磁电流在这对线圈端子之间流动时,继电器单元(电磁断开/闭合设备)被接通,而当这对线圈端子之间没有励磁电流流动时,继电器单元(该设备)则断开。也即是说,电磁断开/闭合设备被接通,从而闭合从电源到负载的电源线,而设备被断开,从而断开电源线。

在这些电磁断开/闭合设备中,由于老化、使用次数(断开/闭合的次数)而可能导致发生诸如触点磨损、触点熔接等之类的触点(固定触点和移动触点)故障。

发明内容

鉴于上述情况,实现了本发明,并且本发明的目的是使其可以检测到触点发生故障。

本发明是一种电磁断开/闭合设备(A),包括:(至少一个)固定触点(1A)和移动触点(1B),并且被配置为:根据用于断开或闭合所述固定触点(1A)和所述移动触点(1B)的外部命令来断开或闭合所述固定触点(1A)和所述移动触点(1B)。所述电磁断开/闭合设备(A)包括第一测量单元(5)、第二测量单元(6)、确定单元(7)、以及输出单元(10)。所述第一测量单元(5)被配置为基于所述外部命令被输入的次数来获得第一计数。所述第二测量单元(6)被配置为基于所述固定触点(1A)和所述移动触点(1B)实际上被断开或闭合的次数来获得第二计数。所述确定单元(7)被配置为基于所述第一计数与所述第二计数之间的差来确定所述固定触点(1A)和所述移动触点(1B)的状态。所述输出单元(10)被配置为向外部提供所述确定单元(7)的确定结果。

在一个实施例中,如果所述差的绝对值等于或大于预定的上限,则所述确定单元(7)被配置为确定所述固定触点(1A)和所述移动触点(1B)存在故障。

在一个实施例中,如果在从所述外部命令的输入点起的设置时间(Tth)期间所述差的绝对值等于或大于预定的上限,则所述确定单元(7)被配置为确定所述固定触点(1A)和所述移动触点(1B)存在故障。

在一个实施例中,如果所述外部命令为闭合控制信号,则所述第一测量单元(5)被配置为基于所述闭合控制信号已被输入的次数来改变所述第一计数。所述闭合控制信号是用于闭合所述固定触点(1A)和所述移动触点(1B)的信号。所述第二测量单元(6)被配置为:将在从所述闭合控制信号的输入点起的第一设置时间(Tth1)期间所述固定触点(1A)和所述移动触点(1B)实际被闭合的次数改变为指定的值;将所述第二计数改变所述指定的值,而不管在所述第一设置时间(Tth1)期间所述固定触点(1A)和所述移动触点(1B)实际被断开和闭合的次数如何;每当所述固定触点(1A)和所述移动触点(1B)实际被断开并且然后在经过所述第一设置时间(Tth1)以后被闭合时,将所述第二计数改变所述指定的值。

在一个实施例中,所述第一测量单元(5)被配置为:如果所述外部命令是闭合控制信号,将所述闭合控制信号已被输入的次数加至所述第一计数。所述闭合控制信号是用于闭合所述固定触点(1A)和所述移动触点(1B)的信号。所述第二测量单元(6)被配置为:将在从所述闭合控制信号的输入点起的第一设置时间(Tth1)期间所述固定触点(1A)和所述移动触点(1B)实际被闭合的次数改变为指定的值;将所述指定的值加至所述第二计数,而不管在所述第一设置时间(Tth1)期间所述固定触点(1A)和所述移动触点(1B)实际被断开和闭合的次数如何;以及每当所述固定触点(1A)和所述移动触点(1B)实际被断开并且然后在经过所述第一设置时间(Tth1)以后被闭合时,将所述指定的值加至所述第二计数。

在一个实施例中,所述确定单元(7)被配置为,如果所述差的绝对值等于或大于第一上限,则输出预定的第一确定结果。

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