[实用新型]探伤线圈装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及无损检测技术领域，特别是涉及一种适用于钢管无损检测的探伤线圈装置。 

背景技术

涡流探伤适用于非铁磁材料和铁磁材料的探伤。在对非铁磁材料探伤时，它不仅能探测出缺陷，而且可以利用阻抗平面技术分析出缺陷所在的位置与深度。在对铁磁性材料进行探伤时，由于集肤效应的存在，涡流探伤在应用上受到了很大的限制，如：应用于铁磁性材料的钢管上，感应电磁场无法渗透到材料内部，又由于铁磁性材料的磁畴结构，将对涡流检测信号产生极大的干扰，上述缺陷足以把缺陷信号完全淹没，因此无法得到有用的信息。为了克服铁磁性金属磁导率对探伤的影响，一般采用先对钢管进行饱和磁化后再探伤，这种方法是首先利用磁饱和装置对钢管等进行预处理，然后再利用探伤线圈进行涡流探伤；然而，要想利用涡流探伤法实现对钢管的有效探伤检测，磁饱和装置应使检测线圈附近的磁通密度达到使钢管饱和磁化所需磁通密度的80％以上，在长期的实践环节发现：由于磁饱和装置用来产生强大的直流磁场，而检测探头也常常用它来夹持，这会对探伤结果产生很大影响，同时，周围环境中各种电磁脉冲的干扰也会造成探伤性能的短时失效，结果导致探伤性能的缺失、出现漏报、错报等现象，继而加工出来的产品质量无法得到保障。 

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是：通过对传统涡流探伤线圈进行改进，提供一种屏蔽性能好、检测灵敏度高的探伤线圈装置。 

本实用新型为解决公知技术中存在的技术问题所采取的技术方案是： 

一种探伤线圈装置，包括：外壳、设置于所述外壳上的铜环、以及自外向内依次层状设置的：屏蔽层、激励线圈、检测线圈、绝缘套；其中：所述激励线圈、检测线圈的引出线与所述铜环电连接；其特征在于：所述外壳上设有屏蔽夹层。 

作为优选方案，本实用新型还采用了如下技术方案： 

所述屏蔽夹层为导电膜； 

进一步，所述导电膜的厚度小于其所传导电磁波波长的四分之一。 

在所述激励线圈和检测线圈之间设有衬垫层； 

进一步，所述衬垫层为铜箔材料制成。 

本实用新型具有的优点和积极效果是：一、本实用新型通过在外壳上增加屏蔽夹层，在激励线圈和检测线圈之间增加衬垫层，在激励线圈和屏蔽层之间增加填充层，极大地提高了探伤线圈装置的屏蔽效果，提高探测的灵敏度；二、本实用新型的填充层为掺有铜粉的硅橡胶制成，因此填充层在起到屏蔽作用的同时，不会产生涡流损耗而使得检测线圈的Q值下降，很好地保证了检测效果。 

附图说明

图1是本实用新型一种探伤线圈装置的结构示意图； 

图2是本实用新型一种探伤线圈装置的A-A截面图。 

图中.1、外壳；2、销钉；3、屏蔽层；4、填充层；5、激励线圈；6、衬垫层；7、检测线圈；8、绝缘套；9、铜环；10、屏蔽夹层。 

具体实施方式

为能进一步了解本实用新型的实用新型内容、特点及功效，兹例举以下实施例，并配合附图详细说明如下： 

请参阅图1、图2，一种探伤线圈装置，包括：外壳1、屏蔽层3、填充层4、激励线圈5、衬垫层6、检测线圈7、绝缘套8、铜环9、以及屏蔽夹层10；其中：外壳1包括前壳和后壳，前壳和后壳之间通过销钉2连接，在外壳1上设有屏蔽夹层10，屏蔽夹层10可以设置于外壳1的壁内，也可以设置于外壳1的内侧，同时为了起到比较好的屏蔽效果，导电膜的厚度小于在导电膜上所传导电磁波波长的四分之一；绝缘套8为空心圆柱结构，绝缘套8的外壁绕有检测线圈7，检测线圈7的外壁设有衬垫层6，衬垫层6为铜箔材料制成，衬垫层6的外壁绕有激励线圈5，激励线圈5的外层设有填充层4，填充层4为掺有铜粉的硅橡胶制成，由于掺有铜粉的硅橡胶不会像金属体那样在内部形成涡流电流，因此填充层4在起到屏蔽作用的同时，不会产生涡流损耗而使得检测线圈7的Q值下降；激励线圈5、检测线圈7的引出线与铜环9电连接。 

以上对本实用新型的实施例进行了详细说明，但所述内容仅为本实用新型的较佳实施例，不能被认为用于限定本实用新型的实施范围。凡依本实用新型申请范围所作的均等变化与改进等，均应仍归属于本实用新型的专利涵盖范围之内。