[实用新型]用于VDMOS器件可靠性测试的双列直插陶瓷底座有效
| 申请号： | 201220588508.4 | 申请日： | 2012-11-09 |
| 公开（公告）号： | CN202994834U | 公开（公告）日： | 2013-06-12 |
| 发明（设计）人： | 范曾轶;廖炳隆;储征毓;罗晶 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 丁纪铁 |
| 地址： | 201206 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 vdmos 器件 可靠性 测试 双列直插 陶瓷 底座 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于VDMOS器件可靠性测试的双列直插陶瓷底座，包括金属引脚（1）、金属底板（2）、金属片（3），所述金属片（3）通过金属片的金属连线（4）与金属引脚（1）连接，其特征在于，所述金属底板（2）的每个侧面与位于该侧面外的金属片（3）远离金属引脚（1）的一端在横向上留有间隙，所述金属底板（2）的每个侧面均通过若干金属底板的金属连线（6）与金属引脚（1）连接。
2.根据权利要求1所述的用于VDMOS器件可靠性测试的双列直插陶瓷底座，其特征在于，所述金属底板的金属连线（6）与金属片的金属连线（4）的走线一致，二者在纵向上留有间隙。
3.根据权利要求1所述的用于VDMOS器件可靠性测试的双列直插陶瓷底座，其特征在于，所述金属底板的金属连线（6）与金属片（3）和金属片的金属连线（4）数量相同，位置一致。
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