[实用新型]一种反求测量时转站用的转站板有效
| 申请号: | 201220385316.3 | 申请日: | 2012-07-31 |
| 公开(公告)号: | CN202710025U | 公开(公告)日: | 2013-01-30 |
| 发明(设计)人: | 余永健;司东宏;刘永刚;李伦 | 申请(专利权)人: | 河南科技大学 |
| 主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20 |
| 代理公司: | 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 | 代理人: | 陈浩 |
| 地址: | 471003 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 测量 时转站用 转站板 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种反求测量时转站用的转站板,属于机械测量技术领域。
背景技术
反求工程(Reverse Engineering,RE),也称逆向工程、反向工程,是指用一定的测量手段对实物或模型进行测量,根据测量数据通过三维几何建模方法重构实物的CAD模型的过程,是一个从样品生成产品数字化信息模型,并在此基础上进行产品设计开发及生产的全过程。在反求工程中需要通用测量仪器获得物体形貌上的几何点云数据。有些测量设备需要在测量物体上贴上标记点来建立点云的坐标系,这些测量设备在测量时,可以移动测量设备和被测物体。有些测量设备不需要在测量物体上贴上标记点来建立测量坐标系,而是通过测量设备所处的位置来建立一个测量坐标系,测量物体及测量设备都不能移动。这些测量设备在测量形貌复杂的对象时,不移动测量设备时无法完成测量;当测量对象尺寸超出了测试仪器的测量范围时,也需要在测量过程中移动测量设备。要解决以上问题都需要移动测试仪器,此时测量坐标系也发生了变化。测量坐标系会导致移动前后测量的点云数据不在同一坐标系下,从而使获得的点云数据无法正确反映实际扫描对象的几何形貌。
实用新型内容
本实用新型的目的是提供一种反求测量时转站用的转站板,以解决目前反求测量时由于测试仪器移动导致测量的点云数据不在同一坐标系下,最终造成无法正确反映实际扫描对象的几何形貌问题。
本实用新型为解决上述技术问题提供一种反求测量时转站用的转站板,该转站板包括一基座,基座的上表面至少凸设有三个平台,其中任何三个平台不在同一个平面上,每个平台上均设有孔,孔与所在平台上表面的相交线为圆。
所述的孔为通孔或者深度大于其直径的盲孔。
所述的每个平台上的孔为两个,且大小不同。
本实用新型的有益效果是:本实用新型通过在一基座上凸设至少三个平台, 并在每个平台上均设有孔,固定转站板的位置,利用测量仪器测的测量仪器移动前后转站板上圆孔的圆心坐标,求出两坐标的偏差,从而能够方便地实现反求测量仪器的转站过程,以实现不同测量坐标系下的点云数据正确拼接的问题。运用本实用新型转站板能够扩大反求测量仪器的使用范围,每使用一次测量仪器就扩大一次测量仪器的使用范围,扩大测量仪器的测量对象,提高测量仪器的使用效率。
附图说明
图1是本实用新型实施例中反求测量时转站用的转站板的轴测图;
图2是本实用新型实施例中反求测量时转站用的转站板的平面结构图。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型的具体实施方式作进一步说明。
本实用新型的反求测量时转站用的转站板,包括一基座1,基座的上表面凸设有五个平台2,其中任何三平台不在同一个平面,每个平台上均设有大孔3和小孔4,大孔3和小孔4是圆柱形、圆锥形或者其它任何形状,只要该孔与所在平台上表面的相交线为圆,每个孔为通孔或者深度大于其直径的盲孔,孔的具体大小和个数根据测量仪器的类型决定。
下面以一个特例来说明本实用新型的具体结构,如图1和图2所示,本实用新型的反求测量时转站用的转站板的基座为一块长185mm,宽260mm,高20mm长方形板,在该基座上凸起五个不同高度的平台,高度分别为5mm,8mm,10mm,15mm,20mm,每个平台上设计有两个圆孔,一个直径8mm,一个直径为26mm,这两个圆孔可以是通孔,也可以是深度大于其直径的盲孔,这样有利于不同直径的测量工具(如探针类和反射球)的测量,这两类圆孔加工后的表面粗糙度要求达到Ra为0.3μm,这五个平台表面都经过研磨工序,保证其表面粗糙度为3.2μm,从而保证每个圆孔与平台表面相交线为圆。
其工作原理过程如下:
1.把测量仪器和扫描对象放置好以后,对扫描对象的几何形貌进行点云数据提取,获得了扫描对象的部分点云数据A1。
2.把转站板放置在测量仪器的使用范围内,在满足转站测量范围的前提下尽量靠近测量仪器,这样能够提高测量的精度。
3.使用测量仪器及测量软件(具有测量点的功能),测得转站板上五个固定圆孔圆心的坐标值,记为qn(xqn,yqn,zqn)(n=1,2,...,5)。五个固定圆孔中,任何三个圆孔都不能在一个平面上。
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