[实用新型]一种PATA和SATA电子盘自动断电测试的装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及硬盘测试领域，具体涉及一种PATA和SATA电子盘自动断电测试的装置。

背景技术

随着现代化科技的发展，各种信息技术和计算机系统被广泛应用于武器、航天航空、医疗等各个领域，信息和数据逐渐在成为这些领域的神经枢纽，同时在数据存储上也带来了不可忽视的安全风险。电子盘作为重要的数据存储设备，尤其是具有特殊用途的例如定制类军用电子盘，在任何恶劣复杂的环境中或异常情况下都应该具有自保护和自恢复功能，确保信息数据的正确性和完整性，因此对电子盘的性能摸底和异常测试尤为重要。

系统突然断电就是常见的异常情况之一，瞬间电流可能造成大量数据出错，甚至整盘数据丢失，从而导致系统崩溃，针对此类现象，电子盘需要经过严格的断电测试，以检验电子盘的自保护功能和异常处理能力。在具体的断电测试过程中需非正常瞬间切断电源，并重启系统查看数据才能得到测试结果，测试过程需要测试人员一直监控，不仅耗人耗时，而且非正常掉电很可能对系统主机造成损伤。

发明内容                                             

本实用新型的目的在于提供了一种PATA和SATA电子盘自动断电测试的装置，其通过对并口输出的TTL信号经过CPLD复杂可编程门阵列进行逻辑编程产生控制信号，用来控制电子盘的电源开关和使能连接电子盘的高速电子开关；另外通过对系统的读写信号(RW)经过CPLD复杂可编程门阵列进行逻辑编程产生控制信号来控制高速电子开关的数据总线方向；最后由软件操作TTL信号控制硬件模拟异常产生，再经过软件对的测试参数的配置，实现自动断电测试的方法。

本实用新型的技术解决方案是：

一种PATA和SATA电子盘自动断电测试的装置，其特殊之处在于：包括与计算机连接的包含CPLD代码的CPLD复杂可编程门阵列逻辑编程芯片，所述CPLD复杂可编程门阵列逻辑编程芯片连接到PNMOS管，控制电子盘的电源供给；所述CPLD复杂可编程门阵列逻辑编程芯片的控制信号连接到SATA电子盘的高速电子开关MAX4951芯片的使能EN管脚或连接到PATA电子盘的高速数据缓冲器DM74ALS245芯片的使能EN管脚。

上述PATA和SATA电子盘自动断电测试的装置，其特殊之处在于：该装置所需电压采用计算机内部标准电源引出。

一种PATA和SATA电子盘自动断电测试的方法，该方法包括以下步骤：

1】将并口输出的TTL信号直接连接到CPLD复杂可编程门阵列逻辑编程芯片，编写CPLD代码实现控制信号产生，当TTL信号同时为高电平或同时为低电平时，输出控制信号为高电平，否则为低电平；

2】将上述的控制信号直接连接到PNMOS管，控制电子盘的电源供给；

3】同时，将上述的控制信号直接连接到SATA电子盘的高速电子开关MAX4951芯片的使能EN管脚，控制SATA盘高速电子开关的使能；

针对PATA盘，将上述的控制信号直接连接到PATA电子盘的高速数据缓冲器DM74ALS245芯片的使能EN管脚，控制PATA盘高速数据缓冲器的使能。

4】在Windows操作下对并口的控制采用WinIO的方式，调用WinIO库直接操作并口物理地址，对计算机并口的P2~P9信号（并口的数据口，物理地址0x378）进行编程，使并口输出高低电平实现电子盘的断电控制；

5】软件在进行第一次自动测试配置后，将此配置以文件的形式存储，供计算机重启后程序自动读取；

6】控制电子盘的读写，并在读写任意时刻发起断电命令，由两个线程实现；

分别是主线程负责读取本地磁盘文件，并写入电子盘中；另一线程监控电子盘的读写，并在读写过程中随机对电子盘断电；

并将断电次数等信息写入配置文件，重启计算机；

每次断电测试后，将对上次写入电子盘的数据进行校验，用以检测电子盘在突然断电后的状况，并将检测结果写入日志文件。

上述PATA和SATA电子盘自动断电测试的方法，其特殊之处在于：该方法所需12V、5V、3.3V电压采用计算机内部标准电源引出；无需涉及电源的隔离和共地问题；

上述PATA和SATA电子盘自动断电测试的方法，其特殊之处在于：该方法使用的控制端输入信号就近选择计算机的并口作为控制IO，由于这些IO口在计算机上电启动过程中的电平时高时低，而电子盘需要一直保持电源才可被系统正常识别，因此不能用并口直接控制，而是需要将多个IO信号经过CPLD复杂可编程门阵列进行逻辑编程后使用。