[发明专利]一种用于化学机械抛光设备的清洗装置在审

专利信息
申请号: 201210557495.9 申请日: 2012-12-20
公开(公告)号: CN103878668A 公开(公告)日: 2014-06-25
发明(设计)人: 顾军;邱麟;刘波 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: B24B29/02 分类号: B24B29/02;B24B55/06
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 张静洁;徐雯琼
地址: 201203 上海市浦东*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 化学 机械抛光 设备 清洗 装置
【权利要求书】:

1.一种用于化学机械抛光设备的清洗装置,包含多个抛光台(10),抛光台(10)上方设有多个抛光头,抛光头的上方设置有顶盖,抛光台(10)的邻近位置还设置有晶片传载机构(12),各抛光头吸持晶片在抛光台上抛光,各所述抛光头可移动;其特征在于,所述该清洗装置包含:壳体(1)、间隔设置在壳体(1)上的一排多个喷头(2);所述喷头(2)包含用于向晶片喷水的直喷头(21)和用于向化学机械抛光设备顶盖内壁喷水的弯喷头(22);各所述喷头(2)通过水管与外部的进水管连接。

2.如权利要求1所述的用于化学机械抛光设备的清洗装置,其特征在于,所述直喷头(21)垂直设置在壳体(1)上。

3.如权利要求1所述的用于化学机械抛光设备的清洗装置,其特征在于,所述弯喷头(22)折弯成一钝角。

4.如权利要求1所述的用于化学机械抛光设备的清洗装置,其特征在于,所述弯喷头(22)优选折弯成一135°钝角。

5.如权利要求1所述的用于化学机械抛光设备的清洗装置,其特征在于,各所述弯喷头(22)设为出水口方向不同。

6.如权利要求1所述的用于化学机械抛光设备的清洗装置,其特征在于,所述该清洗装置设置在化学机械抛光设备的各抛光台(10)的相邻位置。

7.如权利要求1所述的用于化学机械抛光设备的清洗装置,其特征在于,各所述喷头(2)通过水管与外部的进水管连接,通过设置在外部的进水管上的阀门控制,各所述喷头(2)可同时喷水。

8.一种包含清洗装置的化学机械抛光设备,其特征在于,包含:多个抛光台(10),设置在抛光台(10)上方的多个抛光头,设置在抛光头上方的顶盖,设置在所述抛光台(10)相邻位置的多个清洗装置,设置在抛光台(10)邻近位置的晶片传载机构(12);各所述抛光头吸持晶片在抛光台上抛光,各所述抛光头可移动;所述清洗装置包含:壳体(1)、间隔设置在壳体(1)上的一排多个喷头(2);所述喷头(2)包含用于向晶片喷水的直喷头(21)和用于向化学机械抛光设备顶盖内壁喷水的弯喷头(22);所述直喷头(21)垂直设置在壳体(1)上;各所述喷头(2)通过水管与外部的进水管连接;通过设置在外部的进水管上的阀门控制,各所述喷头(2)可同时喷水。

9.如权利要求7所述的包含清洗装置的化学机械抛光设备,其特征在于,所述弯喷头(22)折弯成一钝角。

10.如权利要求7所述的包含清洗装置的化学机械抛光设备,其特征在于,各所述弯喷头(22)设为出水口方向不同。

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