[发明专利]一种制备铜铟镓硒薄膜太阳能电池光吸收层的方法无效

专利信息
申请号: 201210534197.8 申请日: 2012-12-11
公开(公告)号: CN103014643A 公开(公告)日: 2013-04-03
发明(设计)人: 屈飞;古宏伟;丁发柱;戴少涛 申请(专利权)人: 中国科学院电工研究所
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/58;H01L31/18;H01L31/032
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 关玲
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 制备 铜铟镓硒 薄膜 太阳能电池 光吸收 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于薄膜太阳能电池和半导体技术领域,特别涉及一种制备铜铟镓硒(CIGS)薄膜太阳能电池光吸收层的方法。

背景技术

铜铟硒(CuInSe2,简称CIS)基化合物半导体材料具有高的可见光吸收系数,因此可以制备成薄膜太阳能电池,降低成本。由于其可以薄膜化,也可将其制备在不锈钢等金属衬底或聚酰亚胺高分子衬底上,使其柔性化、轻质化,以满足对柔韧性和重量有特殊要求的领域。且其禁带宽度可通过Ga、Al、S等元素的掺杂进行调制,与太阳光谱形成良好的匹配,提高太阳光的利用率。因此铜铟锡基薄膜太阳能电池是国际光伏界研究热点之一,很有可能成为下一代的商品化薄膜太阳电池。

光吸收层是CIS基薄膜太阳能电池的核心功能层,该层质量直接影响电池的光电转换效率。CIS基薄膜太阳能电池光吸收层主要有CuInx(Ga,Al)1-xSey(S,Te)2-y(x=0~1,y=0~2),其中CuInxGa1-xSySe2-y(x=0~1,y=0~2)(CIGS)作为光吸收层制备的电池元件最高转换效率达19.9%。

CIS基薄膜太阳能电池光吸收层制备方法主要有金属后硒化法、共蒸发法及电沉积法等。金属后硒化法是目前应用最多、技术成熟度相对最高的制备方法,但其在硒化过程中发生剧烈的化合反应,薄膜尺寸变化很大,膜内应力较大,且Ga与Se反应温度较高,造成Ga在Mo电极表面富集,使Ga不能形成有效掺杂,薄膜禁带宽度可控性较差,且界面状态恶化,这些问题在制备大尺寸电池时更为突出。共蒸发法薄膜成分控制比较准确,但其设备控制难度较大,且设备投资较高。电沉积法基本无法控制薄膜的成分,尤其对于大尺寸电池制备,由于其成分控制取决于沉积电位,但电池是在玻璃衬底或金属箔材上衬底,电位分布均匀性很差。

发明内容

本发明的目的是克服现有技术的缺点,提供一种制备CIGS薄膜太阳能电池光吸收层的方法。

一种制备CIGS薄膜太阳能电池光吸收层的方法,其特征在于采用陶瓷拼接靶射频磁控溅射,该方法步骤如下:

(1)在钠玻璃基片上溅射Mo薄膜,制备CIGS薄膜太阳能电池所需的Mo背电极;

(2)将制备的Mo电极放入腔体加热器上,安装溅射陶瓷靶,靶基距为60mm。然后抽真空至小于3.0×10-3Pa,以20℃/min升温速率将沉积有Mo背电极的玻璃样品加热至400℃~450℃,随后通入氩气,将气压调至0.1~0.8Pa,开始溅射,将溅射功率增加至100~150W,辉光稳定后,移开挡板,开始沉积,沉积40分钟后,关挡板,关溅射,断开氩气,关真空系统,得到CIGS薄膜;

(3)随后将沉积的CIGS薄膜移入管式真空炉中,真空炉抽至真空小于8.0×10-3Pa,以20℃/min升温速率将CIGS薄膜加热至500℃~550℃。以5℃/min将硒源加热至230℃~280℃,用氩气(Ar)作为载气将硒输运到真空管式炉中,退火气压1Pa~10Pa,保温时间20min~40min,随后以10℃/min的降温速率降温至350℃,随炉冷却至150℃,得到CIGS薄膜太阳能电池光吸收层。

所述溅射陶瓷靶材由99.99%的Ga2Se3、In2Se3和CuSe三种二元陶瓷块交叉拼接靶材为靶材,各陶瓷块最小单元弧度为5°,20°,20°,靶材直径Φ80mm,厚度6mm。

所述制备铜铟镓硒硒薄膜太阳能电池所需的Mo电极步骤如下,将清洗好的钠玻璃基片放入腔体加热器上,安装Mo靶材,靶基距为60mm,然后抽真空至小于3.0×10-3Pa,随后通入氩气,将气压调至0.1~1.5Pa,开溅射,将溅射功率增加至120W,辉光稳定后,移开挡板,沉积10~20min,随后关挡板,关溅射,关真空系统,得到制备CIS基薄膜太阳能电池所需的Mo背电极。

本发明的有益效果为:本发明通过射频溅射陶瓷靶,随后高温硒化退火制备CIGS光吸收层。该方法使用的靶材成本较低,可通过硒的掺杂调制禁带宽度,降低Ga元素用量,降低成本,同时解决金属后硒化的膜应力引起性能控制难度较大的问题,制备的光吸收层成分可控性较好。

附图说明

图1是本发明使用靶材的结构图;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电工研究所,未经中国科学院电工研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210534197.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top