[发明专利]基于同步载频移相的干涉显微检测装置与检测方法无效
| 申请号: | 201210424561.5 | 申请日: | 2012-10-30 |
| 公开(公告)号: | CN102954757A | 公开(公告)日: | 2013-03-06 |
| 发明(设计)人: | 钟志;单明广;郝本功;刁鸣;窦峥;张雅彬 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工程大学 |
| 主分类号: | G01B9/02 | 分类号: | G01B9/02;G01B9/04 |
| 代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 张宏威 |
| 地址: | 150001 黑龙江*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 同步 载频 干涉 显微 检测 装置 方法 | ||
1.一种基于同步载频移相的干涉显微检测装置,它包括光源(1),其特征在于:它还包括线偏振片(2)、第一偏振分光棱镜(3)、第一准直扩束系统(4)、待测物体(5)、显微物镜(6)、校正物镜(7)、第一反射镜(8)、第二反射镜(9)、第二准直扩束系统(10)、第二偏振分光棱镜(11)、λ/4波片(12)、矩形窗口(13)、第一傅里叶透镜(14)、一维周期光栅(15)、第二傅里叶透镜(16)、偏振片组(17)、图像传感器(18)和计算机(19),其中λ为光源(1)发射光束的光波长,
光源(1)发射的光束经线偏振片(2)后入射至第一偏振分光棱镜(3),第一偏振分光棱镜(3)的反射光束入射至第一准直扩束系统(4)的光接收面,经第一准直扩束系统(4)准直扩束后的出射光束依次经待测物体(5)、显微物镜(6)和校正物镜(7)后,入射至第一反射镜(8),第一反射镜(8)的反射光束作为物光束入射至第二偏振分光棱镜(11);
第一偏振分光棱镜(3)的透射光束经第二反射镜(9)反射后入射至第二准直扩束系统(10)的光接收面,经第二准直扩束系统(10)准直扩束后的出射光束作为参考光束入射至第二偏振分光棱镜(11);
汇合于第二偏振分光棱镜(11)的物光束和参考光束经过λ/4波片(12)和矩形窗口(13)后入射至第一傅里叶透镜(14),经第一傅里叶透镜(14)汇聚后的出射光束通过一维周期光栅(15)后入射至第二傅里叶透镜(16),经第二傅里叶透镜(16)透射后的出射光束入射至偏振片组(17),该偏振片组(17)的出射光束由图像传感器(18)的光接收面接收,图像传感器(18)的信号输出端连接计算机(19)的图像信号输入端;
以第一傅里叶透镜(14)光轴的方向为z轴方向建立xyz三维直角坐标系,所述矩形窗口(13)沿垂直于光轴的方向设置,并且沿x轴方向均分为两个小窗口;
第一傅里叶透镜(14)和第二傅里叶透镜(16)的焦距均为f;
矩形窗口(13)位于第一傅里叶透镜(14)的前焦面上;一维周期光栅(15)位于第一傅里叶透镜(14)的后焦f-Δf处并且位于第二傅里叶透镜(16)的前焦f+Δf处,其中Δf为一维周期光栅(15)的离焦量,Δf大于0并且小于f;
图像传感器(18)位于第二傅里叶透镜(16)的后焦面上;
一维周期光栅(15)的周期d与矩形窗口(13)沿x轴方向的宽度D之间满足关系:
d=2λf/D。
2.根据权利要求1所述的基于同步载频移相的干涉显微检测装置,其特征在于:一维周期光栅(15)为二值一维周期光栅、正弦一维周期光栅或余弦一维周期光栅。
3.根据权利要求1或2所述的基于同步载频移相的干涉显微检测装置,其特征在于:偏振片组(17)由两片偏振片组成,该两片偏振片形成1×2阵列,该两片偏振片的透光轴与x轴分别呈0°和45°。
4.根据权利要求3所述的基于同步载频移相的干涉显微检测装置,其特征在于:λ/4波片(12)快轴与x轴呈45°。
5.根据权利要求1或4所述的基于同步载频移相的干涉显微检测装置,其特征在于:线偏振片(2)的透光轴与x轴呈45°。
6.一种基于权利要求1所述基于同步载频移相的干涉显微检测装置的检测方法,其特征在于:它的实现过程如下:
打开光源(1),使光源(1)发射的光束经线偏振片(2)和第一偏振分光棱镜(3)后分成偏振方向相互垂直的物光束和参考光束;物光束和参考光束经第二偏振分光棱镜(11)汇合后,依次通过λ/4波片(12)、矩形窗口(13)、第一傅里叶透镜(14)、一维周期光栅(15)、第二傅里叶透镜(16)和偏振片组(17),
偏振片组(17)出射的偏振光束在图像传感器(18)平面上产生干涉图样,将计算机(19)采集获得的干涉图样根据矩形窗口(13)的小窗口的尺寸分割获得两幅干涉图样,通过计算得到待测物体(5)的相位分布
其中,O′为待测物体的复振幅分布,Im()表示取虚部,Re()表示取实部,
O′=FT-1{FT{(I1-I2)·RE}·HW},
其中,FT表示傅里叶变换,FT-1表示逆傅里叶变换,HW为低通滤波的传递函数,RE为根据一维周期光栅(12)的离焦量Δf,得到的数字参考波RE(x,y):
RE(x,y)=exp(-i2πxΔf/f/d),
I1为由偏振片组(14)中一片偏振片滤波得到的干涉图强度分布,该偏振片的透光轴与x轴呈0°,I2为由偏振片组(14)中另一片偏振片滤波得到的干涉图强度分布,该另一片偏振片的透光轴与x轴呈45°,
I1(x,y)=|R|2+|O|2+R*O+RO*,
I2(x,y)=|R|2+|O|2+exp(-iα)R*O+exp(iα)RO*,
其中,R表示参考光,R*表示R的复共轭,O表示物光,O*表示O的复共轭,α=π/2为载波相移量。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于哈尔滨工程大学,未经哈尔滨工程大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210424561.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





