[发明专利]触控面板的多点触控的位置判断方法及其装置

权利要求书

1.一种触控面板的多点触控的位置判断方法，该触控面板具有依序排列的多条第一感测轴线以及依序排列的多条第二感测轴线，且该些第一感测轴线交越于该些第二感测轴线，其特征在于，该多点触控的位置判断方法包括：

侦测该些第一感测轴线以及该些第二感测轴线的电容信号，得到多个候选触控点；

侦测该些候选触控点，并记录该些候选触控点的电容信号大小和位置；

判断出一最大电容信号以及一最小电容信号；

建立一门限值，其中该门限值＝该最大电容信号 × 一弹性参数 ＋ 该最小电容信号 × (1 –该弹性参数)，该弹性参数为介于0到1之间的常数；以及

判断电容信号大于该门限值的该些候选触控点为真实触控点。

2. 如权利要求1所述的多点触控的位置判断方法，其特征在于，其中该弹性参数为介于0.25到0.75之间的常数。

3.如权利要求2所述的多点触控的位置判断方法，其特征在于，其中该弹性参数为0.5。

4.如权利要求1所述的多点触控的位置判断方法，其特征在于，其中更包括下列步骤：侦测该些第一感测轴线及该些第二感测轴线的电容信号高于一预设数值时，得到多个候选触控点。

5.如权利要求1所述的多点触控的位置判断方法，其特征在于，其中更包括下列步骤：判断该些候选触控点的数量，是否大于或等于4。

6.一种触控面板的多点触控的位置判断装置，该触控面板具有依序排列的多条第一感测轴线以及依序排列的多条第二感测轴线，且该些第一感测轴线交越于该些第二感测轴线，其特征在于，该位置判断装置包括：

一自容式侦测模块，电性连接该些第一感测轴线以及该些第二感测轴线，用以侦测该些第一感测轴线以及该些第二感测轴线的电容信号，并找出多个候选触控点；

一互容式侦测模块，电性连接该些第一感测轴线以及该些第二感测轴线，用以侦测该些多个候选触控点的电容信号，并记录该些候选触控点的电容信号大小及位置；

一取样模块，电性连接该互容式侦测模块，用以从该些候选触控点的电容信号中，找出一最大电容信号以及一最小电容信号；

一计算模块，电性连接该取样模块，并依据该最大电容信号以及该最小电容信号得到一门限值，其中该门限值＝该最大电容信号 × 一弹性参数 ＋ 该最小电容信号 × (1 –该弹性参数)，该弹性参数为介于0到1之间的常数；以及

一比较模块，电性连接该计算模块以及该互容式侦测模块，用以比较该些候选触控点的电容信号是否大于该门限值，以判断该些触控点的位置。

7.如权利要求6所述多点触控的位置判断装置，其特征在于，该弹性参数为介于0.25到0.75之间的常数。

8.如权利要求7所述多点触控的位置判断装置，其中该弹性参数为0.5。

9.如权利要求6所述多点触控的位置判断装置，其特征在于，所述的该自容式侦测模块判断该些第一感测轴线及该些第二感测轴线的电容信号，是否高于一预设数值。

10.如权利要求6所述多点触控的位置判断装置，其特征在于，其中该自容式侦测模块用以判断该些候选触控点的数量，是否大于或等于4。