[发明专利]控制液晶电容以降低对触控感测影响的触控系统及其方法

说明书

技术领域

本发明涉及触控面板的技术领域，特别涉及一种控制液晶电容以降低对触控感测影响的多点触控系统及其方法。

背景技术

传统液晶屏幕使用液晶电容C_LC变化来达成面板显示，其中液晶电容C_LC变化是会随着电压不同而对应不同的电容值。图1为液晶电容C_LC与电压V的关系图。其中，电压V的变化范围为0~5V为，通过控制电压V，即可显示出如图1所示液晶电容C_LC与电压V的关系。

因此当液晶面板上的电容液晶电容C_LC在变化时，进行电容式触控侦测，容易造成触控侦测错误。图2为现有电容式触控侦测与液晶面板的示意图，其中Cp为手指电容，触控侦测是以侦测手指电容Cp与触控面板或液晶面板的电容变化，因此不限于外嵌(Out-Cell)、半内嵌(On-Cell)或内嵌式(In-Cell)电容触控皆会受到液晶面板的液晶电容C_LC影响。

图3为内嵌式触控与液晶电容的示意图，其中Cp为手指触摸面板时所产生的电容，C_LC为液晶电容。由于显示的像素值不同，故通过该源极驱动线写入该液晶电容C_LC的电压亦不相同，因此由图1可知，对应的液晶电容C_LC也随着像素值而有不相同，也就是，液晶电容C_LC常会随像素值进行变化，而不是一个固定值。当液晶电容C_LC为不固定时，由于手指电容Cp变化量很小，且与液晶电容C_LC连接，使得液晶电容C_LC影响变大，造成电容触控侦测的困难。

而电容触控感测技术是以侦测手指接触面板的电容Cp变化量来当作触控与否的技术。图4是现有电容触控感测技术的示意图。其中，手指与感应电极之间会产生一个电容Cp，通过侦测这个电容Cp变化，来获得手指触控位置的信息。由于电容Cp的变化量微弱，容易受噪声影响而导致误判，因此当触控面板贴于液晶面板上时，便很容易受到液晶面板所产生的噪声影响。

现有解决方法为在触控面板与显示面板间加上隔绝层或是气隙(air gap)，用以防止显示面板的噪声干扰到触控侦测。然而此种方法只能使用于外嵌式(out-cell)的触控技术上，而且此方法会增加成本或面板厚度，同时也不是百分之百的可以隔绝显示面板的噪声。另一现有技术则加大驱动电压，用以提高信号噪声比(SNR)，其虽可以解决面板噪声，但却会使功率消耗增加。

在电容触控技术中，若液晶电容C_LC为不固定的值时，则会造电容Cp感测困难，甚至有误判的情形出现，图5为现有技术在液晶电容C_LC变化时执行触控侦测的示意图。如图5所示，当液晶电容C_LC变化时，若在同时间执行触控侦测，可能会造成所采取的触控未处理数据(raw data)的萎缩或增加，进而造成误判以及坐标晃动等现象。因此，现有多点触控系统的噪声去除技术确实仍有改善的空间。

发明内容

本发明的目的主要是在于提供一种控制液晶电容以降低对触控感测影响的多点触控系统及其方法，用以降低液晶面板所产生的噪声对触控侦测的影响，使得触控侦测技术能够更稳定，从而可应用于手持式装置中，以延长手持式装置使用时间。