[发明专利]存储器控制器、存储装置及纠错方法无效
| 申请号: | 201210333371.2 | 申请日: | 2012-09-10 |
| 公开(公告)号: | CN103426482A | 公开(公告)日: | 2013-12-04 |
| 发明(设计)人: | 鸟井修;菅野伸一 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
| 主分类号: | G11C29/42 | 分类号: | G11C29/42 |
| 代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 刘瑞东;陈海红 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 存储器 控制器 存储 装置 纠错 方法 | ||
1.一种控制非易失性存储器的存储器控制器,其特征在于,具备:
编码部,其使用同一生成多项式对2个以上的用户数据分别进行纠错编码处理,按每个用户数据生成第1校验位,并通过对上述2个以上的用户数据和对应的上述第1校验位进行纠错编码处理,生成第2校验位;
存储器接口部,其控制上述用户数据、上述第1校验位及上述第2校验位向上述非易失存储器的写入及从上述非易失性存储器的读出;以及
解码部,其使用从上述非易失性存储器读出的上述用户数据、上述第1校验位及上述第2校验位进行纠错解码处理;
其中,上述第1校验位的纠正能力设为A(A是1以上的整数)比特,上述第2校验位的纠正能力设为B(B是1以上的整数)比特时,使用上述第1校验位和上述第2校验位的两方的上述纠错解码处理,对上述2个以上的用户数据、对应的上述第1校验位和对应的上述第2校验位,具有至少A+B比特的纠正能力。
2.根据权利要求1所述的存储器控制器,其特征在于,
上述解码部根据上述用户数据及上述第1校验位进行纠错解码处理,在该纠错解码处理失败的场合,使用上述用户数据、上述第1校验位及上述第2校验位实施纠错解码处理。
3.根据权利要求1或2所述的存储器控制器,其特征在于,
上述2个以上的用户数据按每个用户数据存储在上述非易失性存储器上的不同页。
4.根据权利要求1或2所述的存储器控制器,其特征在于,
上述2个以上的用户数据存储在上述非易失性存储器上的同一页。
5.根据权利要求1或2所述的存储器控制器,其特征在于,
上述第2校验位存储在与用于生成该第2校验位的用户数据不同的页。
6.根据权利要求1或2所述的存储器控制器,其特征在于,
上述编码部通过对上述第2校验位进行纠错解码处理,生成外部校验位,
上述解码部使用上述外部校验位进行上述第2校验位的纠错解码处理,
在使用上述用户数据、上述第1校验位及上述第2校验位的纠错解码处理中,使用纠错解码处理后的上述第2校验位。
7.根据权利要求1或2所述的存储器控制器,其特征在于,
上述编码部,将与一个上述第2校验位对应的上述用户数据、上述第1校验位及上述第2校验位设为第1用户数据组,通过对一个以上的上述第1用户数据组进行纠错编码处理,生成第3校验位,上述解码部在使用上述用户数据、上述第1校验位及上述第2校验位的纠错解码处理失败的场合,使用上述用户数据、上述第1校验位、上述第2校验位及上述第3校验位实施纠错解码处理。
8.根据权利要求7所述的存储器控制器,其特征在于,
上述编码部,在j设为4以上的整数时,通过从j=4到j=k(k是4以上的整数)为止反复进行以下处理生成第4至第k校验位:将一个以上的第(j-3)用户组及第(j-1)校验位设为第(j-2)用户组,通过对一个以上的第(j-2)用户组进行纠错编码处理,生成第j校验位;
上述解码部,在使用上述用户数据、上述第1至第(j-1)校验位的纠错解码处理失败的场合,使用上述用户数据、上述第1至第j校验位,实施纠错解码处理。
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