[发明专利]一种场强数据处理系统及方法有效

专利信息
申请号: 201210310871.4 申请日: 2012-08-28
公开(公告)号: CN103630760A 公开(公告)日: 2014-03-12
发明(设计)人: 杨玉龙;徐忠;李万章;张利达;高峰;王延辉;于建设;肖社生;沈聪;李湖光;周德钦;李武银;李国强;李刘奇 申请(专利权)人: 国家广播电影电视总局无线电台管理局
主分类号: G01R29/10 分类号: G01R29/10
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 刘芳
地址: 100866 北京市西城*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 场强 数据处理系统 方法
【权利要求书】:

1.一种场强数据处理系统,其特征在于,所述系统包括依次连接的:

获取模块,用于获取各测量点的场强数据;

计算模块,用于计算各测量点相对于预设基准点的位置关系;

筛选模块,用于根据位置关系和预设范围对各测量点进行筛选;

绘制模块,用于根据筛选后的测量点的场强数据绘制场强方向图。

2.根据权利要求1所述的场强数据处理系统,其特征在于,所述获取模块包括:

场强值获取单元,用于获取各测量点的场强值数据;

位置数据获取单元,用于获取各测量点的位置数据。

3.根据权利要求2所述的场强数据处理系统,其特征在于,所述计算模块包括:

基准点的位置数据获取单元,用于获取预先设定的基准点的位置数据;

位置关系计算单元,用于根据所述各测量点的位置数据和基准点的位置数据计算各测量点相对于所述基准点的位置关系,所述位置关系计算单元具体包括:

方位角计算子单元,用于计算所述测量点相对于所述基准点的方位角;

仰角计算子单元,用于计算所述测量点相对于所述基准点的仰角;

高度计算子单元,用于计算所述测量点相对于所述基准点的高度;

测量半径计算子单元,用于计算所述测量点相对于所述基准点的测量半径,所述测量半径为所述测量点到所述基准点的直线距离。

4.根据权利要求3所述的场强数据处理系统,其特征在于,所述筛选模块具体包括:

测量半径筛选单元,用于根据各测量点相对于所述基准点的测量半径以及预设的测量半径范围对各测量点进行筛选;

方位角筛选单元,用于根据各测量点相对于所述基准点的方位角以及预设的方位角范围对各测量点进行筛选;

仰角筛选单元,用于根据各测量点相对于所述基准点的仰角以及预设的仰角范围对各测量点进行筛选;

绘图点获取单元,用于获取由所述测量半径筛选单元、方位角筛选单元或仰角筛选单元中的一个或多个依次筛选后的测量点作为绘制场强方向图的绘图点。

5.根据权利要求4所述的场强数据处理系统,其特征在于,所述筛选模块还包括:

合并数筛选单元,用于根据设定合并数n,计算每一度方位角中场强值由大到小顺序排列中前n个场强值的平均值,所述n为大于等于1的整数,所述平均值用于作为该度方位角的场强值的特征值;

绘图点获取单元,还用于获取由所述测量半径筛选单元、方位角筛选单元、仰角筛选单元或合并数筛选单元中的一个或多个依次筛选后的测量点,所述筛选后的测量点作为绘制场强方向图的绘图点。

6.根据权利要求5所述的场强数据处理系统,其特征在于,所述场强方向图包括垂直场形图和水平场形图,所述绘制模块具体包括:

极坐标水平场形图绘制单元,用于根据各绘图点的方位角及对应的特征值绘制极坐标水平场形图;

直角坐标水平场形图绘制单元,用于根据各绘图点的所述方位角、仰角及对应的特征值绘制直角坐标水平场形图;

极坐标垂直场形图绘制单元,用于根据各绘图点的仰角及对应的特征值绘制极坐标垂直场形图;

直角坐标垂直场形图绘制单元,用于根据各绘图点的所述仰角及对应的特征值绘制直角坐标垂直场形图;

三维坐标立体场形图绘制单元,用于根据各绘图点的所述方位角、仰角及对应的场强值的特征值绘制三维坐标立体场形图。

7.根据权利要求1-6中任一项所述的场强数据处理系统,其特征在于,所述场强数据处理系统还包括:

计算模块,用于获取场强发射机功率,根据绘制的场强方向图结合场强发射机功率计算天线增益、前后比或半功率角中的一种或多种。

8.一种场强数据处理方法,其特征在于,所述方法包括:

获取各测量点的场强数据;

计算各测量点相对于预设基准点的位置关系;

根据位置关系和预设范围对各测量点进行筛选;

根据筛选后的测量点的场强数据绘制场强方向图。

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