[发明专利]光源筛检方法有效

专利信息
申请号: 201210247469.6 申请日: 2012-07-17
公开(公告)号: CN103543003A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 鲁裕康 申请(专利权)人: 光宝电子(广州)有限公司;光宝科技股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01J3/46;G01J3/28
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 510663 广东省广州*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 光源 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种筛检方法,特别是涉及一种光源筛检方法。

背景技术

一般光源分析常会使用CIE(Commission International de l'Eclairage,国际照明委员会)1931座标(以下简称CIE座标)来定义光源呈现的颜色。CIE座标通常以(x,y)的形式表示,每一个特定座标(a,b)对应呈现一种特定的颜色,且邻近座标(a,b)的座标(a+Δx,b+Δy)所呈现的颜色类似座标(a,b)呈现的颜色。举例来说,纯白色的CIE座标为(0.33,0.33),所以邻近CI E座标(0.33,0.33)的座标呈现出来的颜色就会是接近纯白色的颜色。

此外,每一特定CIE座标(a,b)对应的颜色可由不同波长的光线混合而成,也就是说光谱组成不同的光源也可能呈现出相同(或类似)的颜色,并对应相同(或相近)的CIE座标,此为CIE座标的同色异谱(metamerism)特性。因此,若以CIE座标分析不同的光源,当上述光源发出相同(或类似)颜色的光线而具有相同(或相近)的CIE座标时,无法从此分析结果判断上述光源的光谱特性是否类似。

举例来说,白光LED封装体光源可通过LED晶粒配合适当的荧光粉(例如蓝光LED晶粒配合黄色荧光粉)混光而成。两个发光颜色相同的蓝光LED晶粒分别配合成分、比例不同的黄色荧光粉,可构成具有相同(或类似)发光颜色的白光LED封装体光源,但上述白光LED封装体光源的光谱特性会因使用的荧光粉不同而有所差异。因此,使用一般的CIE座标虽可分析、定义前述白光LED封装体光源的颜色,但从CIE座标无法分析上述白光LED封装体的光谱特性,也无法得知上述白光LED封装体是否使用相同的晶粒或荧光粉组成。也就是说,仅通过CIE座标分析法对不同光源进行分析、筛检,仍有应用上的局限性。

由此可见,上述现有的光源分析在结构与使用上,显然仍存在有不便与缺陷,而亟待加以进一步改进。因此如何能创设一种新型结构光源筛检方法,亦成为当前业界极需改进的目标。

发明内容

本发明的目的在于,克服现有的光源分析存在的缺陷,而提供一种新型结构的光源筛检方法,所要解决的技术问题是使其在于提供一种在多个光源中,辨识、筛检出同色同类型(发光颜色相同且光谱特性类似)的光源的筛检方法,非常适于实用。

本发明的目的及解决其技术问题是采用以下技术方案来实现的。依据本发明提出的一种光源筛检方法,其中:该光源筛检方法包含以下步骤:(A)接收受测光源的量测数据,该量测数据包括多个波长资讯及多个分别对应所述波长资讯的光强度资讯;(B)转换该量测数据以判断该受测光源的CIE座标是否落在与参考光源相同的预定区间内,若判断结果为“是”,则执行步骤(C);(C)通过该多个波长资讯和该多个光强度资讯以呈现该受测光源的光谱曲线,并将该受测光源的该光谱曲线中的光强度资讯分别转换为多个相对应的光强度变化量资讯,由所述波长资讯与所述光强度变化量资讯对应呈现该受测光源的转换光谱曲线;(D)依据该转换光谱曲线分析该光谱曲线的反曲点数量及各反曲点对应的波长;(E)判断该受测光源与该参考光源各自的光谱曲线的反曲点数量是否相同,若判断结果为“是”,则执行步骤(F);及(F)判断所有该受测光源与该参考光源的光谱曲线相对应反曲点的波长差值是否在预定对应的波长差值范围内,若判断结果为“是”,则判定该受测光源与参考光源为同色同类型光源。

本发明的目的及解决其技术问题还可采用以下技术措施进一步实现。

前述的光源筛检方法,其特征在于:步骤(B)还包含下列步骤:利用CIE15-2004中的计算方法,将该量测数据转换为该CIE1931座标,以判断该受测光源是否落在与该参考光源相同的该预定区间内。

前述的光源筛检方法,其特征在于:若步骤(B)的判断结果为“否”,则判定该受测光源与该参考光源为异色光源。

前述的光源筛检方法,其特征在于:若该步骤(E)的判断结果为“否”,则判定该受测光源与该参考光源为同色相异类型光源。

前述的光源筛检方法,其特征在于:若该步骤(F)的判断结果为“否”,则判定该受测光源与该参考光源为同色相异类型光源。

前述的光源筛检方法,其特征在于:步骤(D)中该转换光谱曲线具有多个峰值点与多个谷值点,所述峰值点各对应峰值波长,所述谷值点各对应谷值波长,且所有的峰值波长或谷值波长皆为该受测光源的反曲点的波长。

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