[发明专利]使用多分段光电二极管和一个或更少的照明源检测手势的方法

权利要求书

1.一种检测手势的设备，包括：

具有多个分段的分段光电传感器；

光修改结构，所述光修改结构用于将反射光中继到所述分段光电传感器的不同分段上，所述分段光电传感器的所述不同分段感测反射光并且输出对应的感测电压信号；以及

控制电路，所述控制电路用于接收并且处理所述感测电压信号以确定相对于所述分段光电传感器的目标移动，

其中所述光修改结构被配置为选择性地阻挡反射光的一部分，并且

其中所述光修改结构包括通过按照梯级结构配置多个金属层和多个通孔而形成的壁结构。

2.根据权利要求1所述的设备，还包括用于发射光的照明源。

3.根据权利要求1所述的设备，其中所述分段光电传感器包括划分为多个分段的单个光传感器。

4.根据权利要求1所述的设备，其中所述分段光电传感器包括多个单元结构，每个单元结构包括两个光电二极管，此外其中所述光修改结构包括多个壁结构，每个单元具有一个壁结构，其中所述壁结构位于所述两个光电二极管之间。

5.根据权利要求4所述的设备，其中所述光修改结构的所述壁结构的顶部金属层覆盖所述分段光电传感器的内部而不覆盖外部。

6.根据权利要求4所述的设备，其中所述光修改结构包括多个金属层，每个金属层由钝化层分隔，所述钝化层为其中形成有通孔的二氧化硅。

7.根据权利要求4所述的设备，其中每个壁结构与所述分段光电传感器的顶表面呈不垂直的角度。

8.根据权利要求1所述的设备，其中每个光传感器包括多个单元结构，每个单元结构包括一个或多个光电二极管，此外其中所述光修改结构包括多个壁结构，每个单元具有一个壁结构，其中所述壁结构与所述一个或多个光电二极管的顶表面呈不垂直的角度。

9.根据权利要求1所述的设备，其中所述分段光电传感器包括光电传感器阵列。