[发明专利]测量物体内部温度的X射线成像设备及其测量的方法有效

专利信息
申请号: 201210184696.9 申请日: 2012-06-06
公开(公告)号: CN102706474A 公开(公告)日: 2012-10-03
发明(设计)人: 陈树越;程荣 申请(专利权)人: 常州大学
主分类号: G01K11/30 分类号: G01K11/30
代理公司: 北京市惠诚律师事务所 11353 代理人: 王美华
地址: 213164 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 测量 物体 内部 温度 射线 成像 设备 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种测量物体内部温度的X射线成像设备,其特征是:包括发射X射线的X射线管(1)、具有通孔的铅板(2)、耐高温隔热层(3)、将X射线转化成可见光的成像屏(4)、采集成像屏(4)上图像信息的相机(5)、对相机(5)采集的图像信息进行传输的图像传输单元(6)以及处理与显示单元(7),所述的铅板(2)和成像屏(2)之间放置被测物体(8),被测物体(8)的需测温部分(9)的投影落在成像屏(4)的显示范围内。

2.如权利要求1所述的测量物体内部温度的X射线成像设备,其特征是:所述的成像屏(2)的前表面粘附一层隔离被测物体(8)发出的热辐射产生的热量的耐高温隔热层(3),所述的耐高温隔热层(3)为厚度和材质均等、密度低且耐高温的隔热棉材料。

3.如权利要求1所述的测量物体内部温度的X射线成像设备,其特征是:所述的铅板(2)的通孔为圆孔。

4.如权利要求1所述的测量物体内部温度的X射线成像设备,其特征是:所述的相机(3)为CCD相机。

5.一种采用权利要求1-4任一项所述的X射线成像设备进行物体内部温度测量的方法,其特征是具有如下步骤:

①测量前记录被测物体(8)的属性,包括质量吸收系数μm、线胀系数αl、密度ρ以及初始温度t0

②调整X射线管(1)、铅板(2)、成像屏(4)和被测物体(4)四者之间的位置,使被测物体(8)的需测温部分(9)投影整个落在成像屏(4)的显示范围内,同时铅板(2)屏蔽多余的X射线以防止其在相机(5)上产生噪声;

③X射线成像设备的X射线管(1)发出X射线投射到初始温度时的被测物体(8),相机(5)将成像屏(4)上的光信号转换成图像信息,图像传输单元(6)将图像信息发送至处理与显示单元(7);

④X射线成像设备的X射线管(1)发出X射线投射到工作状态的被测物体(8),相机(5)将成像屏(4)上的光信号转换成图像信息,图像传输单元(6)将图像信息发送至处理与显示单元(7);

⑤处理与显示单元(7)将步骤③和④中采集的图像信息分割出需测温部分(9),并分别计算得到这些图像信息的灰度值,初始温度下被测物体(4)的灰度值g,工作状态下被测物体(4)的灰度值g’;

⑥将步骤⑤计算得到的灰度值g、g’通过处理与显示单元(7)计算出被测物体(8)上需测温部分(9)的温度,并将测得的温度与正常温度进行比较判断,并在处理与显示单元(7)上显示。

6.如权利要求5所述的物体内部温度测量的方法,其特征是:步骤③和④分别采样多张图像信息计算取平均值,然后在步骤⑤分别计算初始温度下被测物体(8)需测温部分(9)的灰度值g,工作状态下被测物体(8)需测温部分(9)的灰度值g’。

7.一种用于处理X射线成像设备所拍摄的图像的处理与显示单元,包括用于存储程序代码的程序存储器,其中在该程序存储器中具有程序代码,该程序代码执行按照权利要求5和6中任一项所述的方法。

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