[发明专利]一种准循环低密度奇偶校验码的构造方法和装置

权利要求书

1.一种准循环低密度奇偶校验码的构造方法，其特征在于，包括：

获取一个完备循环差集D＝{d₁，d₂，...，d_k}；所述完备循环差集D的λ＝1，模v＝k²-k+1，所述λ为完备循环差集D中满足d_i-d_j≡a的二元组(d_i，d_j)的数目，1≤i，j≤k，i≠j，a≠0，k为偶数；其中，a为d_i-d_j对v进行取模运算得到的余数；

利用所述完备循环差集D构造M×N移位矩阵S(H)；其中所述移位矩阵S(H)中每个位置为从所述完备循环差集D选取的二元组(d_i，d_j)，所述移位矩阵S(H)中任意两个位置的二元组(d_i，d_j)中的元素互不相同；

将所述M×N移位矩阵S(H)中每个位置的二元组(d_i，d_j)替换为相应的重量为2的循环矩阵W_m，n，构造MP×NP的奇偶校验矩阵H；其中，所述W_m，n＝I(d_i)+I(d_j)，所述I(d_i)为将P×P单位矩阵向右循环移动d_i位后得到的循环置换矩阵，所述P＝v。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，从所述完备循环差集D选取的二元组(d_i，d_j)时，包括：

按固定间隔d从所述完备循环差集D中选取二元组(d_i，d_j)，所述固定间隔d为二元组(d_i，d_j)中两个元素在所述完备循环差集中的间隔。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，利用所述完备循环差集D构造M×N移位矩阵S(H)时，包括：

基于选取的二元组的数目大于等于所述移位矩阵S(H)中表述位置的元素数目。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，从所述完备循环差集D选取的二元组(d_i，d_j)时，包括：

按固定间隔d＝k/2从所述完备循环差集D中选取二元组(d_i，d_i+k/2)，使所述的M×N移位矩阵

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于：

当所述M×N＝k/2时，所述MP×NP的奇偶校验矩阵其中每个位置W_m，n＝I(d_mN+n+1)+I(d_mN+n+1+k/2)，，M≤N，0≤m≤M-1且0≤n≤N-1。