[其他]一种液晶显示器测试系统

说明书

技术领域

本申请涉及液晶显示器测试系统。 

背景技术

本专利申请案要求2010年1月8日提出的、且名称为”自动处理使用于液晶显示器测试设备中的电光传感器的技术”的美国临时申请案第61/293,579号的优先权，其全部内容并入本文。 

本发明有关于使用于液晶(LC)或有机发光二极管(OLED)显示器中的薄膜晶体管(TFT)阵列的电检察的机器。 

于平面液晶显示器的制造中，为了确认已制造的显示器中的瑕疵，执行各种不同的检验阶段。其中一种类型的检查为使用于显示器中的薄膜晶体管阵列的电检验。这类阵列测试器的一个范例为商业上可从Photon Dynamics,Inc.（光子动力学公司）an Orbotech Company ofSan Jose,CA（加州圣何塞的奥博泰克公司）取得的Array CheckerAC5080（阵列测试器AC5080）。 

透过使用于例如美国专利第4,983,911、5,097,201、及5,124,635号中所描述的电压成像(Voltage)测试装置及方法，阵列测试器(或者在本文称为“阵列检查器”或“AC”)可确认液晶显示器中的瑕疵。因为液晶显示器包括像素阵列，当电性驱动液晶显示器时，某些关于瑕疵的像素电性行为不同于正常像素，且因此可使用电压图像传感器检测这样的不同。 

这些电压图像传感器典型地依靠电光传感器，其依次可基于液晶材料(如向列曲线排列状态或扭曲向列分子)或其它电双折射晶体(例如，如钽酸锂或铌酸锂的波克斯晶体(Pockels Crystals))。于Orbotech的阵列检查器的实例中，电光材料贴附于夹在透明电极与反射薄膜之间的重量约5lbs.的玻璃载体。所产生的组件称为“调变器”，使用参 考标记10识别于第1A图中。参考第1B图，调变器10安装于调变器空气轴承座20，调变器空气轴承座20依附于由图像传感器(如CCD摄影机)60所覆盖的光学透镜组件40。照明器80依附至摄影机60。所构成的组件称为电压成像光学系统(VIOS)100─如第1图中所示。 

第2A图及第2B图分别为调变器空气轴承座20的示意图的前视及上视图。参考第2A图，于检验期间，在测试以确保电光传感器(调变器)与TFT玻璃面板210上的像素电极之间的实质的电容偶合，调变器放置于距TFT玻璃面板210足够小的距离。此距离典型地大约25-80um，通过使用数个(例如3个)可调节流量的注入器220的空气轴承所维持。调变器感测回馈模拟信号225测量作用于电光材料上的透明电极的偏电压。调变器座包括可攫取并定位或释放调变器的组夹钳230。夹钳适于以气体驱动以将调变器牢固于检验头。第2A及2B图亦显示于漂浮板240中的调变器容纳凹口235。漂浮板牢固于调变器座250。此外，每一调变器可具有可被检验头上的无线射频识别读取器270所感测的其本身的无线射频识别标签260。 

由于数个原因，进入阵列测试系统中的调变器或相似的电光传感器组件为必要的，例如： 

1)移除/安装电光传感器元件； 

2)清理电光传感器元件的感测(面板侧)表面，以移除干扰测试过程及可能在测试中损害面板的粒子及其它碎屑，并且最佳化传感器元件本身的使用寿命； 

3)调整空气轴承设定，为了确保调变器在测试中为水平且于板之上并飞在正确的高度。典型地，此调整实行于每个调变器交换之后，或当需要调整以维持适当的信号强度及致性的任何时候。