[发明专利]用于房间内温度监视的系统及方法有效
| 申请号: | 201180075427.2 | 申请日: | 2011-12-21 |
| 公开(公告)号: | CN104040311B | 公开(公告)日: | 2017-06-06 |
| 发明(设计)人: | R·安东尼;F·F·法瑞茨;M·盖斯帕瑞多尼 | 申请(专利权)人: | 意大利电信股份公司 |
| 主分类号: | G01K1/14 | 分类号: | G01K1/14;G01K7/42 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 罗亚男 |
| 地址: | 意大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 房间内 温度 监视 系统 方法 | ||
技术领域
本发明一般而言涉及温度监视系统领域。具体地,本发明涉及用于监视诸如包括一个或多个电信和/或处理装备,例如服务器,的机架的数据中心的房间内的表面的温度的系统及方法。
背景技术
如已知的,数据中心是通常适于寄存大量例如服务器、路由器、交换机等计算和/或电信装置的房间。这些装置通常安装到在数据中心内部按行布置的机架中。
在其操作过程中,数据中心中所包括的计算和/或电信装置产生热量。这种热量通常被迫通过在其外壳上提供的冷却网格离开装置。于是,装置产生的热量使数据中心内的空气变暖并且室温会达到非常高的值。具体地,空气温度会达到可能造成计算和/或电信装置的误动的临界值。
通常,数据中心包括用于维持室温低于某个值的系统,特别是用于维持室温低于预定阈值的冷却系统(例如,空调系统),以保证计算和/或电信装置安全且正确的运行。于是,为了操作冷却系统,为数据中心提供能够感测室温并检测室温什么时间和什么地点增加到高于阈值的温度监视系统是必要的。
用于监视房间内所包括的装置的温度以及尤其是房间内给定表面上的温度的温度监视系统可以包括位于房间内某些位置的几个温度传感器。每个传感器检测对应于那个位置的温度的单个温度值。而且,通常,这种检测在时间上是离散的。固定的传感器连接到控制单元,通常,如果一个或多个传感器检测到的温度增加到高于安全性阈值,控制单元就处理检测到的温度值并且操作可能的冷却系统的控制单元。
作为替代,一个红外线或热敏成像照相机可以用来监视房间内表面的温度。热敏成像照相机通常获取被监视的表面的热敏成像扫描,该扫描是相对于所述表面的像素网格的温度值的两维矩阵。实际上,热敏成像照相机通常实现为能够检测由该表面中存在的物质发射的红外线辐射的温度传感器,诸如微测辐射热计,的两维矩阵。红外线辐射由照相机的传感器检测并且被处理,以提供热敏成像扫描。由照相机检测到的红外线辐射的值被进一步处理,以提供表面的图像,通常是灰度级图像或假彩色图像,其中与每个像素关联的灰色调或者颜色代表表面中像素的对应位置的温度样本值。
US 2005/0008215 A1公开了一种系统,其包括用于通过随时间推移获得一系列样本图像来确定样本的具有单调变化特性的时间响应的红外线照相机。
发明内容
本发明人注意到以上所述的温度监视系统有一些缺陷。
实际上,当温度在空间和时间中快速变化时,包括固定的温度传感器的系统不允许准确地监视温度。在原理上,为了提供更高的准确度,将需要在房间内定位非常大量的传感器,或者根据房间内温度值随时间变化的空间分布而改变传感器的位置。不利的是,在这两种情况下,系统实现起来都将过于复杂和过于昂贵。
另一方面,包括一个热敏成像照相机的系统将允许比以上述系统更详细地监视房间的表面上的温度的变化,但不利的是它非常昂贵。
鉴于以上所述,本发明人解决了提供解决以上提到的缺陷的、用于监视诸如数据中心的房间内表面温度的方法及系统的问题。具体地,本发明人解决了提供用于监视温度的方法及系统的问题,所述方法和系统提供了基本上与热敏成像照相机所提供的细节具有可比性的细节程度并且与几个固定温度传感器的系统的成本基本上具有可比性的成本。
在本描述中和在权利要求中,被监视的表面通常将被称为“调查表面”并且它可以包括房间内所包括的装置的表面部分。在数据中心的情况下,调查表面可以包括单个机架或一排机架的正面或背面部分。
而且,在本描述中和在权利要求中,表述“耦合到调查表面的传感器”将在它们可以位于调查表面上或者调查表面附近的意义上指示与调查表面关联的传感器。
根据第一方面,本发明提供了用于监视房间内调查表面的温度的方法,这种方法包括:
a)提供耦合到调查表面的多个,N个,温度传感器;
b)从这多个温度传感器接收各自的温度值;
c)对接收到的温度值应用外插模型并且外插得到调查表面的经外插热敏成像扫描;及
d)基于经外插的热敏成像扫描监视调查表面的温度。
优选地,该方法还包括,在属于样本收集周期的多个,K个,离散时刻,从所述N个温度传感器接收第一温度值以及对应的样本热敏成像扫描,其中每个样本热敏成像扫描包括在调查表面的多个,P×Q,个像素感测到的第二温度值的矩阵。
优选地,该方法还包括基于第一温度值和对应样本热敏成像扫描的第二温度值计算外插模型的外插系数。
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