[发明专利]p型扩散层形成用组合物、p型扩散层的制造方法和太阳能电池元件的制造方法无效
| 申请号: | 201180064911.5 | 申请日: | 2011-07-14 |
| 公开(公告)号: | CN103299399A | 公开(公告)日: | 2013-09-11 |
| 发明(设计)人: | 织田明博;吉田诚人;野尻刚;町井洋一;岩室光则;木泽桂子;足立修一郎;佐藤铁也 | 申请(专利权)人: | 日立化成株式会社 |
| 主分类号: | H01L21/225 | 分类号: | H01L21/225;H01L31/04 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 蒋亭 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 扩散 形成 组合 制造 方法 太阳能电池 元件 | ||
技术领域
本发明涉及p型扩散层形成用组合物、p型扩散层的制造方法和太阳能电池元件的制造方法。
背景技术
对现有的硅太阳能电池元件的制造工序进行说明。
首先,为了促进光封闭效果,实现高效率化,准备形成了纹理结构的p型硅基板,接着在三氯氧磷(POCl3)、氮、氧的混合气体气氛中在800℃~900℃下进行数十分钟的处理,均匀地形成n型扩散层。对于该以往的方法,由于使用混合气体进行磷的扩散,因此不仅在表面,而且在侧面、背面也形成n型扩散层。因此,进行用于将侧面的n型扩散层除去的侧蚀刻。此外,背面的n型扩散层必须转换为p+型扩散层,在背面印刷铝糊剂,将其烧成,使n型扩散层成为p+型扩散层的同时获得了欧姆接触。
但是,由铝糊剂形成的铝层的电导率低,使薄膜电阻降低,因此通常在背面整面形成的铝层在烧成后必须具有10μm~20μm左右的厚度。此外,由于硅与铝的热膨胀率大幅不同,因此在烧成和冷却的过程中,使硅基板中产生大的内部应力,成为结晶粒界的损伤、结晶缺陷增长和翘曲的原因。
为了解决该问题,有减少铝糊剂的涂布量,使背面电极层变薄的方法。但是,如果减少铝糊剂的涂布量,从p型硅半导体基板的表面向内部扩散的铝的量变得不足。其结果,不能实现所需的BSF(Back Surface Field)效应(由于p+型扩散层的存在,生成载流子的收集效率提高的效果),因此产生太阳能电池的特性下降的问题。
与上述关联,例如日本特开2002-539615号公报中,提出了使用硼酸、氧化硼等硼化合物作为扩散源的方法。
此外,日本专利第4347254号说明书中提出了使用氮化硼烧结体作为公报硼扩散材料的方法。此外,在T.Joge等.Jpn.J.Appl.Phys.Vol.42(2003)p5397-5404中提出了使用氮化硼粉末作为硼扩散材料的方法。
发明内容
发明要解决的课题
但是,如果如日本特开2002-539615号公报中记载的方法那样,将硼酸或B2O3用于形成p+型扩散层用的掺杂剂源进行扩散工序,则有时扩散能力不足,无法获得充分的BSF效应。此外,有时硼酸等与硅基板反应,析出结晶性成分,其成为阻抗成分。此外,包含硼酸、B2O3的扩散层形成用溶液有时在保存稳定性上具有问题。
此外,日本专利第4347254号说明书中记载的方法中,必须在1000℃以上的高温下使硼扩散,因此有时在硅基板产生损伤,电池效率降低。此外,由于在过剩地含有氧的气氛中扩散,因此硅基板被氧化,在硅基板表面形成氧化硅SiO2。由于该氧化硅具有从硅基板夺取硼的性质,因此存在硅基板表面的硼浓度降低的问题。此外,在Jpn.J.Appl.Phys.Vol.42(2003)p5397-5404中,对于使用氮化硼粉末的方法只不过在形式上进行了记载,使用的氮化硼的粒径、有无分散介质的存在等详细的条件都没有记载,实质上等于没有公开。
本发明鉴于以上的以往的问题而完成,课题在于提供能够抑制热处理时的硅基板的翘曲的发生,同时抑制p型扩散层形成用组合物与基板在高温下的反应,形成低电阻的p型扩散层的p型扩散层形成用组合物、p型扩散层的制造方法和太阳能电池元件的制造方法。
用于解决课题的手段
本发明包含以下的方案。
<1>p型扩散层形成用组合物,其含有从氮化硼和碳化硼中选择的至少1种硼化合物和分散介质。
<2>上述<1>所述的p型扩散层形成用组合物,其中,以粒子形状含有上述硼化合物,该粒子的体积平均次级粒子粒径(50%D)为10nm~15μm,平均初级粒子粒径为10nm~12μm。
<3>上述<1>或<2>所述的p型扩散层形成用组合物,其中,以粒子形状含有上述硼化合物,该粒子的平均初级粒子粒径为10nm~5μm。
<4>上述<1>~<3>的任一项所述的p型扩散层形成用组合物,其中,上述分散介质含有有机粘结剂。
<5>上述<1>~<4>的任一项所述的p型扩散层形成用组合物,其中,上述硼化合物为湿式粉碎的产物。
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