[发明专利]用于监控调制器的输出特性的组件

权利要求书

1.一种光子组件，包括：

基底；

光学振幅调制器，该光学振幅调制器具有至少两个臂，该至少两个臂用于通过输出合成器将光传送至输出端口，该输出端口耦合至安装在所述基底内或所述基底上的输出波导；以及

安装在所述基底内或所述基底上的至少一个溢出波导，该溢出波导具有输入端，该输入端物理上与所述输出波导分离但接近所述输出波导以便收集从输出端口或输出波导溢出的光。

2.根据权利要求1所述的组件，其中所述溢出波导的输入端位于接近所述调制器的输出端口的位置，该位置被选择以使当所述调制器被配置成使穿过所述调制器的光破坏性地进行干扰且基本上没有光通过所述输出端口传送时，通过所述基底从所述输出合成器所辐射出来的光被耦合至所述溢出波导中。

3.根据权利要求2所述的组件，其中所述溢出波导的输入端的位置被优化，以使当所述调制器被配置成使穿过所述调制器的光破坏性地进行干扰以存在通过所述输出端口的最大传输时，基本上没有光被耦合至所述溢出波导中。

4.根据权利要求2或3所述的组件，其中耦合至所述溢出波导中的光的强度基本上与通过所述输出波导传送的光的强度成反比例。

5.根据权利要求2、3或4所述的组件，其中所述溢出波导的输入端与所述调制器的输出端口基本上位于同一水平。

6.根据权利要求1所述的组件，其中所述溢出波导的输入端位于所述输出端口的下游位置且与所述输出波导足够接近以便由穿过所述输出波导的光产生的倏逝波被耦合至所述溢出波导中。

7.根据权利要求6所述的组件，其中所述溢出波导的输入端位于与所述输出端口足够远的下游位置，以能够进行高阶模的滤波。

8.根据权利要求6或7所述的组件，其中所述溢出波导的输入端位于所述输出端口下游且与该输出端口距离处于一范围内，该范围为所述调制器的操作波长的大约1000至大约3000倍之间。

9.根据权利要求6、7或8所述的组件，其中耦合至所述溢出耦合器中的光的强度基本上与通过所述输出波导传送的光的强度成比例。

10.根据以上任一项权利要求所述的组件，其中由所述溢出波导收集的光对通过所述输出波导的光的传输基本上没有影响。

11.根据以上任一项权利要求所述的组件，该组件包括具有输入端的两个溢出波导，所述溢出波导的输入端基本上等距地位于所述输出波导的任一侧。

12.根据权利要求11所述的组件，其中由所述溢出波导中每个溢出波导收集的光展示了与所述调制器的强度传输曲线相对比的强度传输曲线中的相位偏移，但是由两个溢出波导一起收集的全部光展示了基本上在强度传输曲线中没有相位偏移。

13.根据以上任一项权利要求所述的组件，该组件进一步包括耦合至所述溢出波导或每个溢出波导的光电探测器，以用于检测沿着所述溢出波导传递的光的强度。

14.根据权利要求13所述的组件，其中单个光电探测器被耦合至两个溢出波导以便检测同时沿着两个溢出波导传递的光的总强度。

15.根据权利要求13或14所述的组件，其中所述光电探测器位于所述溢出波导的上方，以使由沿着所述溢出波导传播的光产生的倏逝波被耦合至所述光电探测器中。

16.在权利要求15引用权利要求14时根据权利要求15所述的组件，其中所述光电探测器包括位于所述光电探测器的底面内且位于所述输出波导上上方的凹槽，以防止从所述输出波导至所述光电探测器的倏逝波耦合。

17.根据权利要求13或14所述的组件，其中所述光电探测器位于所述溢出波导或每个溢出波导的上方，所述组件进一步包括位于所述溢出波导或每个溢出波导中的角镜以用于将光耦合至所述光电探测器中。

18.根据权利要求13至17中任一项权利要求所述的组件，其中所述光电探测器为光电二极管。

19.根据权利要求1至12中任一项权利要求所述的组件，该组件进一步包括将来自所述溢出波导或每个溢出波导的光耦合至外部光纤的接口。

20.根据以上权利要求中任一项权利要求所述的组件，其中所述溢出波导或每个溢出波导的所述输入端为锥形。