[发明专利]自动分析装置无效
| 申请号： | 201180054236.8 | 申请日： | 2011-10-18 |
| 公开（公告）号： | CN103201632A | 公开（公告）日： | 2013-07-10 |
| 发明（设计）人： | 吉川惠子;山崎创 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N21/01 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 雒运朴 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种自动分析装置，该自动分析装置包括有发光二极管光源和该发光二极管光源的温度调节机构，其特征在于，
所述温度调节机构包括：设有所述发光二极管光源的金属构件、埋设于该金属构件而供恒温槽水流通的流水导管以及仅使所述发光二极管光源的伴随发热的引线与所述金属构件直接接触的金属小片构件。
2.根据权利要求1所述的自动分析装置，其特征在于，
所述发光二极管光源的没有伴随发热的引线被绝缘构件覆盖。
3.根据权利要求1或2所述的自动分析装置，其特征在于，
所述流水导管被绝缘构件覆盖。
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