[发明专利]具有用于泄漏抵消的保持节点的像素传感器基元和制造方法以及设计结构在审
| 申请号: | 201180048094.4 | 申请日: | 2011-09-21 |
| 公开(公告)号: | CN103155541A | 公开(公告)日: | 2013-06-12 |
| 发明(设计)人: | J·W·阿基森;J·J·埃利斯-莫纳甘;R·J·拉斯尔 | 申请(专利权)人: | 国际商业机器公司 |
| 主分类号: | H04N5/357 | 分类号: | H04N5/357;H04N5/359;H04N5/376;H04N5/361;H01L27/146 |
| 代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 于静;张亚非 |
| 地址: | 美国*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 具有 用于 泄漏 抵消 保持 节点 像素 传感器 制造 方法 以及 设计 结构 | ||
1.一种像素阵列,包括在整个有源光感测区域中局部分散的一个或多个参考像素传感器基元,所述一个或多个参考像素传感器基元被构造为提供参考信号,所述参考信号用于校正光子产生的泄漏信号,所述光子产生的泄漏信号在所述有源光感测区域内局部变化。
2.如权利要求1所述的像素阵列,其中所述一个或多个参考像素传感器基元被持续地保持在复位模式中,以便不被进入所述一个或多个参考像素传感器基元的光电二极管的光子所影响。
3.如权利要求1所述的像素阵列,其中所述一个或多个参考像素传感器基元提供已知的参考信号。
4.如权利要求1所述的像素阵列,其中所述一个或多个参考像素传感器基元局部地位于所述有源光感测区域中的各个有源像素传感器基元附近。
5.如权利要求4所述的像素阵列,其中所述一个或多个参考像素传感器基元被多个有源像素传感器基元围绕。
6.如权利要求4所述的像素阵列,其中所述一个或多个参考像素传感器基元邻近一个或多个有源像素传感器基元。
7.如权利要求6所述的像素阵列,其中所述一个或多个参考像素传感器基元是与所述一个或多个有源像素传感器基元成对的单元基元。
8.如权利要求4所述的像素阵列,其中所述一个或多个参考像素传感器基元占据所述像素阵列中大约25%或更多的像素。
9.如权利要求1所述的像素阵列,其中所述一个或多个参考像素传感器基元具有与有源像素传感器基元基本上相同的信号特性。
10.如权利要求1所述的像素阵列,其中所述一个或多个参考像素传感器基元包括连接到信号接线的全局快门门,以便通过将所述全局快门门布线在设定值处的高而将光电二极管保持在预定电平。
11.如权利要求1所述的像素阵列,其中所述一个或多个参考像素传感器基元的浮动扩散节点保留在设定值。
12.如权利要求11所述的像素阵列,其中改变所述一个或多个参考像素传感器基元的全局快门门Vdd信号以在不同电平处复位。
13.如权利要求1所述的像素阵列,其中所述一个或多个参考像素传感器基元被持续保持在非激活模式中,以便光电二极管被保持在激活状态之外,以便所述一个或多个参考像素传感器基元不会被进入所述光电二极管的光子所影响。
14.一种包括参考像素传感器基元的像素阵列,所述参考像素传感器基元包括连接到Vdd或参考电压线路以被持续保持在复位模式中的全局快门门,以便所述参考像素传感器基元不被进入所述参考像素传感器基元的光电二极管的光子所影响。
15.如权利要求14所述的传感器阵列,其中所述参考像素传感器基元邻近有源像素传感器基元。
16.一种制造像素传感器基元阵列的方法,包括:
形成有源像素传感器基元,具有连接到快门布线线路的全局快门门;以及
形成与所述有源像素传感器基元邻近的参考像素传感器基元,所述参考像素传感器基元具有连接到参考电压的全局快门门,以便所述参考像素传感器基元不会被进入所述参考像素传感器基元的光电二极管的光子所影响。
17.一种在机器可读的数据存储介质上编码的硬件描述语言(HDL)设计结构,所述HDL设计结构包括元件,当所述元件在计算机辅助设计系统中被处理时产生参考像素传感器基元的机器可执行表示,其中所述HDL设计结构包括在整个有源光感测区域中局部分散的一个或多个参考像素传感器基元,所述一个或多个参考像素传感器基元提供参考信号,所述参考信号用于校正光子产生的泄漏信号,所述光子产生的泄漏信号在所述有源光感测区域内局部变化。
18.如权利要求17所述的设计结构,其中所述设计结构包括网表。
19.如权利要求17所述的设计结构,其中所述设计结构作为用于集成电路的布局数据的交换的数据格式驻留在存储介质中。
20.如权利要求17所述的设计结构,其中所述设计结构驻留在可编程门阵列中。
21.一种补偿像素阵列中的泄漏的方法,包括:
提供已知电压信号给邻近有源像素传感器基元的参考像素传感器基元;
读出所述参考像素传感器基元的输出电压信号,并将所述泄漏计算为所述已知电压信号和所述输出电压信号之间的差;以及
将所计算的泄漏添加到所述有源像素传感器基元的输出电压信号。
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