[发明专利]用于制造偏振膜的设备及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201180027919.4 申请日: 2011-06-02
公开(公告)号: CN102939192A 公开(公告)日: 2013-02-20
发明(设计)人: 李镐敬;李昶松;李圭滉;张应镇;罗重锡 申请(专利权)人: LG化学株式会社
主分类号: B29C41/30 分类号: B29C41/30;G02B5/30;B29D7/01
代理公司: 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 代理人: 林锦辉
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 用于 制造 偏振 设备 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种用于通过利用连续过程来使用碘对基板膜进行染色,并且随后使得染色后的膜取向,制备展现出偏振特性的膜(“偏振膜”)的装置,所述装置包括:

第一浴,所述第一浴配备有用于测量所述第一浴的温度的温度计(“第一浴温度计”),在所述第一浴中,洗涤作为基板膜的聚乙烯醇(PVA)膜;

第二浴,所述第二浴配备有用于测量所述第二浴的温度的温度计(“第二浴温度计”)以及用于测量所述第二浴的浓度的浓度计(“第二浴浓度计”),在所述第二浴中,将所述洗涤后的PVA膜浸入碘溶液中,并且在其中对所述洗涤后的PVA膜进行染色;

第三浴,在所述第三浴中,利用拉伸辊来对经过碘染色后的PVA膜进行拉伸,由此使得所述染色后的碘取向;

炉室,所述炉室配备有用于测量炉室的温度的温度计(“炉室温度计”),所述炉室用于烘干所述经过碘取向后的PVA膜;以及

中央控制器,用于基于关于由所述第一、第二浴和所述炉室中的上述温度计以及所述第二浴中的浓度计测量的输入数据的特性的信息以及关于引入到所述连续过程中的PVA膜的特性的信息,预测所述偏振膜的透射率,并且随后控制所述第一、第二浴和所述炉室的温度以及输送到所述第二浴的组合物的量。

2.如权利要求1所述的装置,其中,所述第二浴温度计测量所述第二浴内部的两个或多个位置处的温度。

3.如权利要求1所述的装置,其中,所述第二浴的浓度包括碘和碘化钾的浓度。

4.如权利要求1所述的装置,其中,所述第二浴中的组合物包括碘和碘化钾。

5.如权利要求1所述的装置,还包括组合物输送器,用于基于所述中央控制器的透射率预测结果,添加要被输送到所述第二浴的组合物。

6.如权利要求1所述的装置,其中,所述透射率的预测利用基于部分最小平方(“PLS”)的PVA膜透射率模型来执行。

7.如权利要求1所述的装置,还包括第一附加浴1A和第二附加浴2A,所述第一附加浴1A用于溶胀所述洗涤后的PVA膜,以及所述第二附加浴2A用于洗涤所述染色后的PVA膜。

8.一种通过将保护膜附在由如权利要求1所述的装置制备的偏振膜的顶部和底部的每个上制造的偏振片。

9.如权利要求8所述的偏振片,其中,所述保护膜包括三乙酰纤维素(TAC)。

10.一种用于通过利用连续过程来使用碘对基板膜进行染色随后使得所述染色后的膜取向,制备展现出偏振特性的膜(“偏振膜”)的方法,所述方法包括:

第一过程,用于在第一浴中洗涤作为基板膜的PVA膜,并且使用第一浴温度计测量所述第一浴的温度;

第二过程,用于将所述洗涤后的PVA膜浸入到包含碘溶液的第二浴中,对所述洗涤后的PVA膜进行染色,以及使用第二浴温度计和第二浴浓度计测量所述第二浴的温度和浓度;

第三过程,用于在第三浴中,利用拉伸辊来对经过碘染色后的PVA膜进行拉伸,从而使得所述PVA膜中的被染色的碘取向;

烘干过程,用于在炉室中烘干经过碘取向后的PVA膜,并且使用炉室温度计测量炉室的温度;以及

控制过程,用于基于关于由所述第一、第二浴和所述炉室中的上述温度计以及所述第二浴中的浓度计测量的输入数据的特性的信息以及关于引入到所述连续过程中的PVA膜的特性的信息,预测偏振膜的透射率,并且随后控制所述第一、第二浴和所述炉室的温度以及输送到所述第二浴的组合物的量。

11.如权利要求10所述的方法,还包括:

第一附加过程1A,用于在溶胀槽中溶胀所述洗涤后的PVA膜;以及

第二附加过程2A,用于在洗涤槽中洗涤所述染色后的PVA膜。

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