[发明专利]透明发光二极管晶片组件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201180012916.3 申请日: 2011-02-25
公开(公告)号: CN102792469A 公开(公告)日: 2012-11-21
发明(设计)人: 辛成福 申请(专利权)人: 申王均
主分类号: H01L33/02 分类号: H01L33/02;H01L33/42
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 楼高潮
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 透明 发光二极管 晶片 组件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种透明发光二极管晶片组件,其特征在于,包括:

下部透明基板(100),其具有透光性;

下部透明电极(200),其涂敷在上述下部透明基板(100),来接受电源;

n-电极(310),其通过蒸镀金属并蚀刻之后在上述下部透明电极(200)以预定的深度收容下端的方式形成;

外延膜质(300),其由多个层构成,该外延膜质(300)被蒸镀在上述n-电极(310)上之后被蚀刻,并且在施加电源时发光;

p-电极(370),其通过在构成上述外延膜质(300)的多个层中在最上端形成的p-欧姆接触层(360)上蒸镀金属并蚀刻的方式形成;

透明非导体(600),其装入在与上述n-电极(310)和上述p-电极(370)分别连接的下部透明电极(200)和上部透明电极(400)之间,以阻断在施加电源时产生的正极性和负极性;

上部透明电极(400),其层压在上述透明非导体(600)和上述p-电极(370)上;以及

上部透明基板(500),其具有透光性,并层压在上述上部透明电极(400)上。

2.根据权利要求1所述的透明发光二极管晶片组件,其特征在于,上述外延膜质(300)包括:

AlGalnN缓冲层(320),其通过被蒸镀在上述下部透明电极(200)之后被蚀刻的方式形成,并且该AlGalnN缓冲层(320)以与上述n-电极(310)的上端相同的高度在上述n-电极(310)的一侧生长;

n-AlGalnN膜质(330),其层压在上述n-电极(310)和上述AlGalnN缓冲层(320)上;

AlGalnN活性层(340),其层压在上述n-AlGalnN膜质(330)上,并且该AlGalnN活性层(340)由多个量子阱构成,在施加电源时发光;

p-AlGalnN覆盖膜质(350),其层压在上述AlGalnN活性层(340)上;以及

p-欧姆接触层(360),其层压在上述p-AlGalnN覆盖膜质(350)上。

3.根据权利要求1所述的透明发光二极管晶片组件,其特征在于,

使上述n-电极(310)和上述p-电极(370)分别生长成n-AllnGaP层(200a)和p-Gap层(200d);

上述外延膜质(300)中,使层压在生长成上述n-AllnGaP层(200a)的上述n-电极(310)上的n-AlGalnN膜质(330)生长成n-AllnGaP层(200a),使上述AlGalnN膜质(330)上的AlGalnN活性层(340)生长成AllnGaP活性层(200c),并使依次层压在上述AlGalnN活性层(340)上的p-AlGalnN覆盖膜质(350)和p-欧姆接触层(360)生长成p-AllnGaP层(200c)。

4.根据权利要求1所述的透明发光二极管晶片组件的制造方法,其特征在于,

使上述n-电极(310)和上述p-电极(370)分别生长成金属电接触部(100f、100g);

上述外延膜质(300)包括:

在上述金属电接触部(100f)上生长的一个以上的p-AllnGaP覆盖层(100b),

在上述p-AllnGaP覆盖层(100b)上生长的AllnGaP活性层(100c),

在上述AllnGaP活性层(100c)上生长的n-AllnGaP覆盖层(100d),以及

在上述n-AllnGaP覆盖层(100d)上生长的n-Gap层(100e)。

5.根据权利要求1所述的透明发光二极管晶片组件的制造方法,其特征在于,通过上述上、下部透明电极(400、200)施加电源,来使从上述AlGalnN活性层(340)产生的热量通过上述上、下部透明基板(500、100)排放。

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